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Trap-Assisted DRAM Row Hammer Effect
IEEE electron device letters, 2019-03, Vol.40 (3), p.391-394
2019
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IEEE electron device letters, 2010-01, Vol.31 (1), p.62-64
2010
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2020 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2020, p.35-38
2020
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2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2021, p.188-191
2021
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2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2021, p.107-110
2021
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2015 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2015, p.433-436
2015
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2020 4th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2020, p.1-4
2020
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2021 5th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2021, p.1-3
2021
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IEEE design & test of computers, 2010-03, Vol.27 (2), p.18-25
2010
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Asia-Pacific Microwave Conference 2011, 2011, p.813-816
2011
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Stress-Aware Design Methodology
7th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED'06), 2006, p.807-812
2006
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2007 International Conference on Machine Learning and Cybernetics, 2007, Vol.3, p.1667-1671
2007
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