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1994
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1998
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1995
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IEEE transactions on electron devices, 1995-01, Vol.42 (3), p.469-482
1995
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IEEE electron device letters, 1993-10, Vol.14 (10), p.478-480
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2003 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications. Proceedings of Technical Papers. (IEEE Cat. No.03TH8672), 2003, p.243-246
2003
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IEEE transactions on electron devices, 1998-04, Vol.45 (4), p.889-894
1998
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IEEE electron device letters, 1993-04, Vol.14 (4), p.193-195
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1997 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 35th Annual, 1997, p.282-286
1997
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