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2008
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on nuclear science, 2008-02, Vol.55 (1), p.302-310
- Acernese, F.
- Amico, P.
- Alshourbagy, M.
- Antonucci, F.
- Avino, S.
- Barille, R.
- Barsotti, L.
- Barsuglia, M.
- Bauer, T.S.
- Beauville, F.
- Bigotta, S.
- Bizouard, M.A.
- Boccara, C.
- Bondu, F.
- Bosi, L.
- Bradaschia, C.
- Birindelli, S.
- Braccini, S.
- Brillet, A.
- Brisson, V.
- Buskulic, D.
- Calloni, E.
- Carbognani, F.
- Cavalier, F.
- Cavalieri, R.
- Chassande-Mottin, E.
- Christensen, N.
- Clapson, A.C.
- Corda, C.
- Corsi, A.
- Cottone, F.
- Cuoco, E.
- Dari, A.
- Davier, M.
- De Rosa, R.
- Di Fiore, L.
- Di Virgilio, A.
- Dujardin, B.
- Eleuteri, A.
- Evans, M.
- Ferrante, I.
- Fournier, J.D.
- Freise, A.
- Gammaitoni, L.
- Garufi, F.
- Genin, E.
- Gennai, A.
- Giazotto, A.
- Giordano, L.
- Gouaty, R.
- Guidi, G.
- Hebri, S.
- Hello, P.
- Huet, D.
- Karkar, S.
- La Penna, P.
- Letendre, N.
- Lopez, B.
- Loriette, V.
- Losurdo, G.
- Mackowski, J.M.
- Majorana, E.
- Man, C.N.
- Mantovani, M.
- Marque, J.
- Masserot, A.
- Milano, L.
- Moins, C.
- Moreau, J.
- Morgado, N.
- Mours, B.
- Nocera, F.
- Palomba, C.
- Paoletti, F.
- Pardi, S.
- Pasqualetti, A.
- Passaquieti, R.
- Piergiovanni, F.
- Pinard, L.
- Poggiani, R.
- Punturo, M.
- Puppo, P.
- Rapagnani, P.
- Reita, V.
- Ricci, F.
- Ricciardi, I.
- Ruggi, P.
- Solimeno, S.
- Spallicci, A.
- Tarallo, M.
- Tonelli, M.
- Toncelli, A.
- Travasso, F.
- Tremola, C.
- Vajente, G.
- Verkindt, D.
- Vetrano, F.
- Vicere, A.
- Vocca, H.
- Yvert, M.
2008
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on nuclear science, 2008-02, Vol.55 (1), p.225-232
- Acernese, F.
- Amico, P.
- Alshourbagy, M.
- Antonucci, F.
- Avino, S.
- Ballardin, G.
- Barone, F.
- Barsuglia, M.
- Bigotta, S.
- Birindelli, S.
- Bizouard, M.A.
- Boccara, C.
- Bondu, F.
- Bradaschia, C.
- Braccini, S.
- Brillet, A.
- Buskulic, D.
- Campagna, E.
- Carbognani, F.
- Cavalier, F.
- Cella, G.
- Cesarini, E.
- Chassande-Mottin, E.
- Corda, C.
- Corsi, A.
- Cottone, F.
- Clapson, A.-C.
- Cleva, F.
- Cuoco, E.
- Dari, A.
- Dattilo, V.
- Davier, M.
- del Prete, M.
- De Rosa, R.
- Di Virgilio, A.
- Dujardin, B.
- Eleuteri, A.
- Evans, M.
- Ferrante, I.
- Fidecaro, F.
- Flaminio, R.
- Fournier, J.-D.
- Frasca, S.
- Frasconi, F.
- Gennai, A.
- Giordano, G.
- Giordano, L.
- Gouaty, R.
- Grosjean, D.
- Guidi, G.
- Hebri, S.
- Heitmann, H.
- Hello, P.
- Huet, D.
- Karkar, S.
- Kreckelbergh, S.
- La Penna, P.
- Laval, M.
- Leroy, N.
- Letendre, N.
- Lopez, B.
- Lorenzini, M.
- Loriette, V.
- Losurdo, G.
- Majorana, E.
- Mantovani, M.
- Marchesoni, F.
- Marque, J.
- Masserot, A.
- Mazzoni, M.
- Milano, L.
- Moins, C.
- Moreau, J.
- Mours, B.
- Palomba, C.
- Paoletti, F.
- Pasqualetti, A.
- Passaquieti, R.
- Passuello, D.
- Piergiovanni, F.
- Pinard, L.
- Punturo, M.
- van der Putten, S.
- Qipiani, K.
- Rapagnani, P.
- Remillieux, A.
- Ricciardi, I.
- Russo, G.
- Solimeno, S.
- Tarallo, M.
- Tonelli, M.
- Toncelli, A.
- Travasso, F.
- Tremola, C.
- Vajente, G.
- Vetrano, F.
- Vicere, A.
- Vinet, J.-Y.
- Vocca, H.
- Yvert, M.
2008
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2007 IEEE Custom Integrated Circuits Conference, 2007, p.451-454
2007
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2006 43rd ACM/IEEE Design Automation Conference, 2006, p.558-561
2006
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2003-12, Vol.3 (4), p.191-196
2003
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