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2011
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IEEE transactions on medical imaging, 2007-11, Vol.26 (11), p.1585-1597
2007
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Proceedings of the IEEE, 2009-03, Vol.97 (3), p.513-552
2009
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IEEE transactions on plasma science, 2016-09, Vol.44 (9), p.1758-1762
2016
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IEEE transactions on electron devices, 2010-03, Vol.57 (3), p.620-625
2010
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IEEE transactions on applied superconductivity, 2023-08, Vol.33 (5), p.1-5
2023
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IEEE transactions on electron devices, 2011-08, Vol.58 (8), p.2511-2519
2011
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IEEE transactions on nuclear science, 2022-04, Vol.69 (4), p.731-737
2022
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2018 IEEE/RSJ International Conference on Intelligent Robots and Systems (IROS), 2018, p.2183-2189
2018
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IEEE transactions on medical imaging, 2019-03, Vol.38 (3), p.730-740
2019
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IEEE transactions on nuclear science, 2023-07, Vol.70 (7), p.1-1
2023
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IEEE journal of photovoltaics, 2014-01, Vol.4 (1), p.493-497
2014
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IEEE transactions on medical imaging, 2009-10, Vol.28 (10), p.1526-1533
2009
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2018 IEEE/RSJ International Conference on Intelligent Robots and Systems (IROS), 2018, p.7513-7520
2018
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IEEE transactions on electron devices, 1999-07, Vol.46 (7), p.1537-1544
1999
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Proceedings of the IEEE, 2009-01, Vol.97 (1), p.108-122
2009
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IEEE journal of quantum electronics, 2009-06, Vol.45 (6), p.674-683
2009
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IEEE transactions on automation science and engineering, 2015-01, Vol.12 (1), p.62-74
2015
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2019 International Conference on Robotics and Automation (ICRA), 2019, p.4303-4309
2019
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AIP Conference Proceedings, 2018, Vol.2020 (1)
2018
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IEEE transactions on electron devices, 2005-01, Vol.52 (1), p.77-84
2005
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IEEE electron device letters, 2006-07, Vol.27 (7), p.549-551
2006
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IEEE communications letters, 2008-06, Vol.12 (6), p.426-428
2008
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
- Naik, V. B.
- Yamane, K.
- Lim, J. H.
- Lee, T. Y.
- Kwon, J.
- Aein, Behin
- Chung, N. L.
- Hau, L. Y.
- Chao, R.
- Zeng, D.
- Otani, Y.
- Chiang, C
- Huang, Y.
- Pu, L.
- Thiyagarajah, N.
- Jang, S. H.
- Neo, W. P.
- Dixit, H.
- Aris, S.K
- Goh, L. C.
- Ling, T.
- Hwang, J.
- Ting, J. W.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Balasankaran, N.
- Seet, C. S.
- Ong, S.
- Wong, J.
- You, Y. S.
- Woo, S. T.
- Siah, S. Y.
2020
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2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2019, p.2.3.1-2.3.4
- Naik, V. B.
- Lim, J. H.
- Lee, T. Y.
- Neo, W. P.
- Dixit, H.
- K, S.
- Goh, L. C.
- Ling, T.
- Hwang, J.
- Zeng, D.
- Ting, J. W.
- Lee, K.
- Toh, E. H.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Balasankaran, N.
- Zhang, L. Y.
- Gan, K. W.
- Hau, L. Y.
- Mueller, J.
- Pfefferling, B.
- Kallensee, O.
- Yamane, K.
- Tan, S. L.
- Seet, C. S.
- You, Y. S.
- Woo, S. T.
- Quek, E.
- Siah, S. Y.
- Pellerin, J.
- Chao, R.
- Kwon, J.
- Thiyagarajah, N.
- Chung, N. L.
- Jang, S. H.
- Behin-Aein, B.
2019
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