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Logic BIST Architecture Using Staggered Launch-on-Shift for Testing Designs Containing Asynchronous Clock Domains
2010 IEEE 25th International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2010, p.358-366
2010
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Design and analysis of self-repairable MEMS accelerometer
20th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT'05), 2005, p.21-29
2005
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A dual-mode built-in self-test technique for capacitive MEMS devices
22nd IEEE VLSI Test Symposium, 2004. Proceedings, 2004, p.148-153
2004
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ThemaComputer Science, Hardware & Architecture
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