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Opposite-channel-based charge injection in SOI MOSFET's under hot carrier stress
IEEE transactions on electron devices, 1995-09, Vol.42 (9), p.1697-1700
1995
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Successive charging/discharging of gate oxides in SOI MOSFETs by sequential hot electron stressing of front/back channel
Proceedings of 1993 IEEE International SOI Conference, 1993, p.162-163
1993
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ThemaPhysics
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