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Laser Array Covering 155 nm Wide Spectral Band Achieved by Selective Area Growth on Silicon Wafer
2020 European Conference on Optical Communications (ECOC), 2020, Vol.128 (13), p.1-4
2020
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Measurement of bonding energy in an anhydrous nitrogen atmosphere and its application to silicon direct bonding technology
Journal of applied physics, 2012-05, Vol.111 (10), p.104907-104907-7
2012
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Transient current technique for charged traps detection in silicon bonded interfaces
AIP advances, 2019-02, Vol.9 (2), p.025307-025307-9
2019
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Ordering of Ge quantum dots with buried Si dislocation networks
Applied physics letters, 2002-04, Vol.80 (17), p.3078-3080
2002
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Accurate control of the misorientation angles in direct wafer bonding
Applied physics letters, 2002-02, Vol.80 (5), p.793-795
2002
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Reversible and irreversible current induced domain wall motion in CoFeB based spin valves stripes
Applied physics letters, 2007-06, Vol.90 (23)
2007
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Huge differences between low- and high-angle twist grain boundaries: The case of ultrathin (001) Si films bonded to (001) Si wafers
Applied physics letters, 2000-08, Vol.77 (8), p.1135-1137
2000
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Stability of interfacial dislocations in (001) silicon surfacial grain boundaries
Applied physics letters, 2002-06, Vol.80 (22), p.4121-4123
2002
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Precession-dominated switching of synthetic antiferromagnets
Applied physics letters, 2004-11, Vol.85 (18), p.4094-4096
2004
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Designing A Dictionary For True Repeatable Random Number Generation
6th International Workshop on Information Optics (WIO '07) (AIP Conference Proceedings Volume 949), 2007, Vol.949, p.91-98
2007
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Grazing incidence x-ray scattering investigation of Si surface patterned with buried dislocation networks
Applied physics letters, 2003-04, Vol.82 (16), p.2598-2600
2003
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Ordered growth of germanium hut islands on Si (001) molecular bonded substrates
Applied physics letters, 2004-12, Vol.85 (23), p.5700-5702
2004
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Reversible and irreversible current induced domain wall motionin CoFeB based spin valves stripes
Applied physics letters, 2007-06, Vol.90 (23), p.232505-232505-3
2007
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X-ray reflectivity of ultrathin twist-bonded silicon wafers
Applied physics letters, 1999-11, Vol.75 (22), p.3509-3511
1999
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