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2023
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Applied physics letters, 2020-07, Vol.117 (1)
2020
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Applied physics letters, 2017-01, Vol.110 (3)
2017
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Applied physics letters, 2008-09, Vol.93 (10)
2008
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Applied physics letters, 2020-10, Vol.117 (15)
2020
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Journal of applied physics, 2020-09, Vol.128 (11)
2020
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AIP Conference Proceedings, 2019, Vol.2054 (1)
2019
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AIP advances, 2017-09, Vol.7 (9), p.095324-095324-5
2017
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Applied physics letters, 2017-10, Vol.111 (14)
2017
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AIP Conference Proceedings, 2016, Vol.1783 (1)
2016
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Review of scientific instruments, 2016-05, Vol.87 (5)
2016
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Applied physics letters, 2008-09, Vol.93 (10), p.103310-103310-3
2008
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Journal of applied physics, 2005-01, Vol.97 (1)
2005
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Journal of applied physics, 2004-12, Vol.97 (1), p.013525-013525-7
2004
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Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 2004-01, Vol.22 (1), p.109-115
2004
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Applied physics letters, 2017-09, Vol.111 (11)
2017
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Applied physics letters, 2017-03, Vol.110 (11)
2017
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Applied physics letters, 2016-02, Vol.108 (7)
2016
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Applied physics letters, 2014-12, Vol.105 (23)
2014
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Applied physics letters, 2013-11, Vol.103 (19)
2013
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Journal of applied physics, 2019-08, Vol.126 (8)
2019
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Review of scientific instruments, 2023-05, Vol.94 (5)
2023
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Applied physics letters, 2014-02, Vol.104 (5)
2014
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Applied physics letters, 2016-04, Vol.108 (15)
2016
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Negative bias temperature instability of SiC MOSFET induced by interface trap assisted hole trapping
2016
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