Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Sortiert nach
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor substrate current during Fowler–Nordheim tunneling stress and silicon dioxide reliability
Journal of applied physics, 1994-09, Vol.76 (6), p.3695-3700
1994
Link zum Volltext
Verfügbarkeit prüfen
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Impact of polysilicon depletion in thin oxide MOS technology
1993 International Symposium on VLSI Technology, Systems, and Applications Proceedings of Technical Papers, 1993, p.86-90
1993
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Oxide breakdown model for very low voltages
Symposium 1993 on VLSI Technology, 1993, p.43-44
1993
Link zum Volltext
Verfügbarkeit prüfen
1 – 3 von 3
Suche als RSS-Feed
Aktive Filter
ThemaTechnology
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigen