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Open Access
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Analysis and Modeling of CD Variation for Statistical Static Timing
2006 IEEE/ACM International Conference on Computer Aided Design, 2006, p.60-66
2006
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An Efficient Static Algorithm for Computing the Soft Error Rates of Combinational Circuits
Proceedings of the Design Automation & Test in Europe Conference, 2006, Vol.1, p.1-6
2006
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Statistical performance analysis and optimization of digital circuits
2008
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Transistor-Specific Delay Modeling for SSTA
2008 Design, Automation and Test in Europe, 2008, p.592-597
2008
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Top-k aggressors sets in delay noise analysis
2007 44th ACM/IEEE Design Automation Conference, 2007, p.174-179
2007
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A statistical approach for full-chip gate-oxide reliability analysis
2008 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, 2008, p.698-705
2008
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A statistical approach for full-chip gate-oxide reliability analysis
Proceedings of the 2008 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, 2008, p.698-705
2008
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Transistor-specific delay modeling for SSTA
Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe, 2008, p.592-597
2008
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Analysis and modeling of CD variation for statistical static timing
International Conference on Computer Aided Design: Proceedings of the 2006 IEEE/ACM international conference on Computer-aided design : San Jose, California; 05-09 Nov. 2006, 2006, p.60-66
2006
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Victim alignment in crosstalk aware timing analysis
Proceedings of the 2007 IEEE/ACM international conference on Computer-aided design, 2007, p.698-704
2007
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A Framework for Battery-Aware Sensor Management
Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe - Volume 2, 2004, p.20962-20962
2004
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Efficient algorithms for identifying the minimum leakage states in CMOS combinational logic
17th International Conference on VLSI Design. Proceedings, 2004, p.240-245
2004
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Power Management
Sensor Network Operations, 2006, p.337-420
2006
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