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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Microelectronic engineering, 2022-02, Vol.254, p.111660, Article 111660
2022
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2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-5
2020
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2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, p.1-6
2021
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2024 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2024, p.1-2
2024
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2019 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2019, p.1-5
2019
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2024 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), 2024, p.3-4
- Kaczer, B.
- Degraeve, R.
- Franco, J.
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- Bury, E.
- Weckx, P.
- Chasin, A.
- Tyaginov, S.
- Vandemaele, M.
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- Canflanca, P. Saraza
- Waltl, M.
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- Catapano, E.
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2024
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Semiconductor science and technology, 2017-10, Vol.32 (11)
2017
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Semiconductor science and technology, 2017-11, Vol.32 (11), p.114006
2017
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IEEE transactions on electron devices, 2023-09, Vol.70 (9), p.4674-4679
2023
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Advanced engineering materials, 2019-09, Vol.21 (9), p.n/a
2019
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Advanced engineering materials, 2019-09, Vol.21 (9), p.n/a
2019
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2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022, p.10A.3-1-10A.3-6
2022
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