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2017
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2012
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IVEC 2012, 2012, p.221-222
2012
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IVEC 2012, 2012, p.219-220
2012
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2010 IEEE International Vacuum Electronics Conference (IVEC), 2010, p.389-390
2010
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2019 24th IEEE International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA), 2019, p.1239-1242
2019
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2016 IEEE International Symposium on Mixed and Augmented Reality (ISMAR), 2016, p.27-36
2016
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2020 25th IEEE International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA), 2020, Vol.1, p.1351-1354
2020
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2023
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- Bouvier, Amélie
- Durand, Amandine
- Gower, Nicolas
- Castilla-Llorente, Cristina
- Campidelli, Arnaud
- Dulery, Remy
- Gangneux, Jean-Pierre
- Joris, Magalie
- Eloit, Martin
- Fayard, Amandine
- Di Blasi, Roberta
- Denis, Blandine
- Herbaux, Charles
- Morschhauser, Franck
- Casasnovas, Olivier
- Houot, Roch
- Angebault, Cécile
- Bachy, Emmanuel
- Le Bras, Fabien
- Gastinne, Thomas
- Tudesq, Jean-Jacques
- Melica, Giovanna
2023
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OCEANS 2022, Hampton Roads, 2022, p.1-8
- Felikson, Denis
- Fenty, Ian
- Hamlington, Ben
- Shiklomanov, Alexey
- Blackwood, Carmen
- Carroll, Mark
- Croteau, Michael
- David, Cedric
- Drushka, Kyla
- Duffy, Daniel
- Farrar, J. Thomas
- Forget, Gael
- Fournier, Severine
- Frederikse, Thomas
- Fukumori, Ichiro
- Guillaume, Alexandre
- Heimbach, Patrick
- Huang, Thomas
- Larour, Eric
- Lee, Kyo
- Li, Jian
- Medley, Brooke
- Nowicki, Sophie
- Quinn, Justin
- Ramirez-Linan, Ramon
- Ray, Richard
- Rilee, Mike
2022
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2018 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2018, p.195-200
2018
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A >150dB dynamic range, enhanced input swing, high precision current mirror in 180nm CMOS technology
2023
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Computer Safety, Reliability, and Security, p.65-80
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Computer Vision – ECCV 2018 Workshops, p.689-701
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CONCUR 2003 - Concurrency Theory, 2003, p.144-158
2003
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Computer Safety, Reliability, and Security, p.90-108
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2019 IEEE International Solid- State Circuits Conference - (ISSCC), 2019, p.322-324
2019
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2020 IEEE Sensors, 2020, p.1-4
2020
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MATEC Web of Conferences, 2018, Vol.165, p.22026
2018
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2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020, p.163-168
2020
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2019 IEEE SENSORS, 2019, p.1-4
2019
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Proceedings of the 23rd Conference on Design, Automation and Test in Europe, 2020, p.163-168
2020
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Euro-Par 2016: Parallel Processing, p.171-182
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