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Microelectronics and reliability, 2002-09, Vol.42 (9), p.1653-1658
2002
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2008-07, Vol.16 (7), p.830-836
2008
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2003-12, Vol.3 (4), p.191-196
2003
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ThemaPhysics, Particles & Fields
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