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2019
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IEEE transactions on electron devices, 2024-03, Vol.71 (3), p.1893-1899
2024
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IEEE electron device letters, 2017-12, Vol.38 (12), p.1657-1660
2017
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2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024, p.7B.5-1-7B.5-6
2024
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2023 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2023, p.97-100
2023
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IEEE electron device letters, 2022-06, Vol.43 (6), p.878-881
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IEEE electron device letters, 2010-01, Vol.31 (1), p.62-64
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IEEE journal of the Electron Devices Society, 2024, Vol.12, p.658-661
2024
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2024
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2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2021, p.107-110
2021
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2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2021, p.188-191
2021
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2020 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2020, p.35-38
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2020 Device Research Conference (DRC), 2020, p.1-2
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2015
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2014 Symposium on VLSI Technology (VLSI-Technology): Digest of Technical Papers, 2014, p.1-2
2014
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2020 4th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2020, p.1-4
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2024 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2024, p.1-4
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Journal of vacuum science & technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 1997-05, Vol.15 (3), p.946-950
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World journal of gastroenterology : WJG, 2014-10, Vol.20 (40), p.14986-14991
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Chinese medical journal, 2016-05, Vol.129 (9), p.1113-1121
2016
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IEEE electron device letters, 2022-06, Vol.43 (6), p.878-881
2022
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2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2015, p.5.5.1-5.5.4
2015
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2024 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2024, p.1-2
2024
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