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Back biasing effects in tri-gate junctionless transistors
Solid-state electronics, 2013-09, Vol.87, p.74-79
2013
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Behavior of subthreshold conduction in junctionless transistors
Solid-state electronics, 2016-10, Vol.124, p.58-63
2016
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In depth characterization of electron transport in 14 nm FD-SOI CMOS devices
Solid-state electronics, 2015-10, Vol.112, p.13-18
2015
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In depth characterization of electron transport in 14nm FD-SOI CMOS devices
Solid-state electronics, 2015-10, Vol.112, p.13-18
2015
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Effects of channel width variation on electrical characteristics of tri-gate Junctionless transistors
Solid-state electronics, 2013-03, Vol.81, p.58-62
2013
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Full split C–V method for parameter extraction in ultra thin BOX FDSOI MOS devices
Solid-state electronics, 2014-09, Vol.99, p.104-107
2014
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Impact of series resistance on the operation of junctionless transistors
Solid-state electronics, 2017-03, Vol.129, p.103-107
2017
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Low-frequency noise behavior of junctionless transistors compared to inversion-mode transistors
Solid-state electronics, 2013-03, Vol.81, p.101-104
2013
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Low temperature characterization of mobility in 14 nm FD-SOI CMOS devices under interface coupling conditions
Solid-state electronics, 2015-06, Vol.108, p.30-35
2015
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Low temperature characterization of mobility in 14nm FD-SOI CMOS devices under interface coupling conditions
Solid-state electronics, 2015-06, Vol.108, p.30-35
2015
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Low-temperature electrical characterization of junctionless transistors
Solid-state electronics, 2013-02, Vol.80, p.135-141
2013
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Magnetoresistance mobility characterization in advanced FD-SOI n-MOSFETs
Solid-state electronics, 2015-01, Vol.103, p.229-235
2015
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New method for the extraction of bulk channel mobility and flat-band voltage in junctionless transistors
Solid-state electronics, 2013-11, Vol.89, p.139-141
2013
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Series resistance in different operation regime of junctionless transistors
Solid-state electronics, 2018-03, Vol.141, p.92-95
2018
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Visualization of local gate control in a ZnO inter-nanowire junction device
Solid-state electronics, 2009-03, Vol.53 (3), p.320-323
2009
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ThemaLife Sciences & Biomedicine
Zeitschrift / SerieSolid-State Electronics
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