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A 640-ps, 0.25-/spl mu/m CMOS, 16/spl times/64-b three-port register file

IEEE journal of solid-state circuits, 1997-08, Vol.32 (8), p.1288-1292

1997

Volltextzugriff (PDF)

A 640-ps, 0.25-μm CMOS, 16×64-b three-port register file

IEEE journal of solid-state circuits, 1997-08, Vol.32 (8), p.1288-1292

1997

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A large V/sub DS/ data retention test pattern for DRAM's

IEEE journal of solid-state circuits, 1992-08, Vol.27 (8), p.1214-1217

1992

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Measurement of VLSI power supply current by electron-beam probing

IEEE journal of solid-state circuits, 1992-06, Vol.27 (6), p.948-950

1992

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Advances In Membrane Probe Technology

Proceedings International Test Conference 1992, 1992, p.927

1992

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A room temperature 0.1 /spl mu/m CMOS on SOI

IEEE transactions on electron devices, 1994-12, Vol.41 (12), p.2405-2412

1994

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Fast CMOS ECL receivers with 100-mV worst-case sensitivity

IEEE journal of solid-state circuits, 1988-02, Vol.23 (1), p.59-67

1988

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A 20-ns 128-kbit4 high speed DRAM with 330-Mbit/s data rate

IEEE journal of solid-state circuits, 1988-10, Vol.23 (5), p.1140-1149

1988

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On-Chip Test Circuitry for a 2 ns Cycle 512Kb CMOS ECL SRAM

ESSCIRC '91: Proceedings - Seventeenth European Solid-State Circuits Conference, 1991, Vol.1, p.209-212

1991

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A 1.2 ns/1 ns 1 K16 ECL dual-port cache RAM

1993 IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers, 1993, p.244-245

1993

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A 4 Mb Low-temperature DRAM

1991 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers, 1991, p.30-31

1991

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A low temperature 12 ns DRAM

International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications, 1989, p.32-35

1989

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Low temperature SER and noise in a high speed DRAM

Proceedings of the Workshop on Low Temperature Semiconductor Electronics, 1989, p.5-9

1989

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A 3.5ns CMOS 64K ECL RAM at 77/spl deg/K

Symposium 1988 on VLSI Circuits, 1988, p.17-18

1988

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