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Temperature and current dependences of reliability degradation of buried heterostructure semiconductor lasers
IEEE transactions on device and materials reliability, 2005-03, Vol.5 (1), p.150-154
2005
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Reliability-extrapolation methodology of semiconductor laser diodes: is a quick life test feasible?
IEEE transactions on device and materials reliability, 2006-03, Vol.6 (1), p.46-51
2006
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Human-Body-Model Electrostatic-Discharge and Electrical-Overstress Studies of Buried-Heterostructure Semiconductor Lasers
IEEE transactions on device and materials reliability, 2007-09, Vol.7 (3), p.453-461
2007
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Reliability of etched-mesa buried-heterostructure semiconductor lasers
IEEE transactions on device and materials reliability, 2005-12, Vol.5 (4), p.665-674
2005
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Theoretical and Experimental Thermal Analysis of InP Ridge Lasers on Submounts and TO Packages
IEEE transactions on device and materials reliability, 2007-06, Vol.7 (2), p.363-368
2007
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ThemaGalaxies: Evolution
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