Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Morphologie, 2018-09, Vol.102 (338), p.186-186
2018
Volltextzugriff (PDF)
Active and passive electronic components, 2018-01, Vol.2018 (2018), p.1-10
2018
Volltextzugriff (PDF)
Food research international, 2021-11, Vol.149, p.110650-110650, Article 110650
2021
Volltextzugriff (PDF)
Colloids and surfaces, B, Biointerfaces, 2018-10, Vol.170, p.538-543
2018
Volltextzugriff (PDF)
Solid-state electronics, 2016-04, Vol.118, p.26-29
2016
Volltextzugriff (PDF)
Applied physics. A, Materials science & processing, 2015-11, Vol.121 (3), p.1285-1290
2015
Volltextzugriff (PDF)
2015 Symposium on VLSI Technology (VLSI Technology), 2015, p.T48-T49
- Batude, P.
- Fenouillet-Beranger, C.
- Pasini, L.
- Lu, V.
- Deprat, F.
- Brunet, L.
- Sklenard, B.
- Piegas-Luce, F.
- Casse, M.
- Mathieu, B.
- Billoint, O.
- Cibrario, G.
- Turkyilmaz, O.
- Sarhan, H.
- Thuries, S.
- Hutin, L.
- Sollier, S.
- Widiez, J.
- Hortemel, L.
- Tabone, C.
- Samson, M.-P
- Previtali, B.
- Rambal, N.
- Ponthenier, F.
- Mazurier, J.
- Beneyton, R.
- Bidaud, M.
- Josse, E.
- Petitprez, E.
- Rozeau, O.
- Rivoire, M.
- Euvard-Colnat, C.
- Seignard, A.
- Fournel, F.
- Benaissa, L.
- Coudrain, P.
- Leduc, P.
- Hartmann, J.-M
- Besson, P.
- Kerdiles, S.
- Bout, C.
- Nemouchi, F.
- Royer, A.
- Agraffeil, C.
- Ghibaudo, G.
- Signamarcheix, T.
- Haond, M.
- Clermidy, F.
- Faynot, O.
- Vinet, M.
2015
Volltextzugriff (PDF)
2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
- Cavalcante, C.
- Fenouillet-Beranger, C.
- Batude, P.
- Garros, X.
- Federspiel, X.
- Lacord, J.
- Kerdiles, S.
- Royet, A. S.
- Acosta-Alba, P.
- Rozeau, O.
- Barral, V.
- Arnaud, F.
- Planes, N.
- Sassoulas, P. O.
- Ghegin, E.
- Beneyton, R.
- Gregoire, M.
- Weber, O.
- Guerin, C.
- Arnaud, L.
- Moreau, S.
- Kies, R.
- Romano, G.
- Rambal, N.
- Magalhaes, A.
- Ghibaudo, G.
- Colinge, J. P.
- Vinet, M.
- Andrieu, F.
2020
Volltextzugriff (PDF)
2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, p.1-8
2021
Volltextzugriff (PDF)
Solid-state electronics, 2018-06, Vol.144, p.78-85
2018
Volltextzugriff (PDF)
IEEE electron device letters, 2012-07, Vol.33 (7), p.1057-1059
2012
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronic engineering, 2015-11, Vol.147, p.113-116
2015
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronic engineering, 2015-11, Vol.147, p.113-116
2015
Volltextzugriff (PDF)
Solid-state electronics, 2011-04, Vol.58 (1), p.68-74
2011
Volltextzugriff (PDF)
Solid-state electronics, 2008-04, Vol.52 (4), p.519-525
2008
Volltextzugriff (PDF)
Revista de la Facultad de Ciencias Médicas de Córdoba, 2018-10, p.45-46
2018
Volltextzugriff (PDF)
Solid-state electronics, 2013-10, Vol.88, p.32-36
2013
Volltextzugriff (PDF)
2017 47th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2017, p.144-147
2017
Volltextzugriff (PDF)
ECS transactions, 2014-08, Vol.64 (8), p.61-68
2014
Volltextzugriff (PDF)
ECS transactions, 2011, Vol.39 (1), p.187-193
2011
Volltextzugriff (PDF)
ECS transactions, 2013, Vol.53 (3), p.125-136
2013
Volltextzugriff (PDF)
2014 44th European Solid State Device Research Conference (ESSDERC), 2014, p.254-257
2014
Volltextzugriff (PDF)
2015 Symposium on VLSI Technology (VLSI Technology), 2015, p.T50-T51
- Pasini, L.
- Batude, P.
- Casse, M.
- Mathieu, B.
- Sklenard, B.
- Luce, F. Piegas
- Reboh, S.
- Bernier, N.
- Tabone, C.
- Rozeau, O.
- Martini, S.
- Fenouillet-Beranger, C.
- Brunet, L.
- Audoit, G.
- Lafond, D.
- Aussenac, F.
- Allain, F.
- Romano, G.
- Barraud, S.
- Rambal, N.
- Barral, V.
- Hutin, L.
- Hartmann, J.-M
- Besson, P.
- Kerdiles, S.
- Haond, M.
- Ghibaudo, G.
- Vinet, M.
2015
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronic engineering, 2009-07, Vol.86 (7-9), p.1740-1742
2009
Volltextzugriff (PDF)
2015 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2015, p.5A.5.1-5A.5.5
2015
Volltextzugriff (PDF)
Aktive Filter
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Sprache
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Science & Technology
- Technology
- Engineering
- Engineering, Electrical & Electronic
- Physical Sciences
- Physics
- Microelectronics
- Engineering Sciences
- Micro And Nanotechnologies
- Physics, Condensed Matter
- Physics, Applied
- Silicon
- Instruments & Instrumentation
- Logic Gates
- Degradation
- High-K Gate Dielectrics
- Mos Devices
- Tin
- High K Dielectric Materials
- Mosfets
Kollektion
- IEEE Xplore
- Ingenta
- Elsevier ScienceDirect Journals Complete
- Elsevier Journal Backfiles on ScienceDirect (DFG Nationallizenzen)
- EZB Electronic Journals Library
- SpringerLINK Contemporary (Konsortium Baden-Württemberg)
- EBSCOhost Business Source Ultimate
- IngentaConnect Journals
- Springer Nature - Complete Springer Journals
Zeitschrift / Serie
- Solid-State Electronics
- Microelectronic Engineering
- Ieee Transactions On Device And Materials Reliability
- Ieee Transactions On Electron Devices
- Microelectronics And Reliability
- Ieee Electron Device Letters
- Active And Passive Electronic Components
- Applied Physics. A, Materials Science & Processing
- Colloids And Surfaces, B, Biointerfaces
- Ecs Transactions
Neu hinzugefügt