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Design and Measurement of a 1-kBit eFuse One-Time Programmable Memory IP Based on a BCD Process
IEICE transactions on electronics, 2010, Vol.E93-C (8), p.1365-1370
2010
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Design of 1-Kb eFuse OTP Memory IP with Reliability Considered
JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, 2011, 11(2), 42, pp.88-94
2011
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Design of an EEPROM for a MCU with the Wide Voltage Range
JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, 2010, 10(4), 40, pp.316-324
2010
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Design of a 256-KBit EEPROM IP for touch-screen controllers
International Conference on Communications and Electronics 2010, 2010, p.124-126
2010
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Design of 1-Kb eFuse OTP Memory IP with Reliability Considered
Journal of semiconductor technology and science, 2011, Vol.11 (2), p.88-94
2011
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Design of an EEPROM for a MCU with the Wide Voltage Range
Journal of semiconductor technology and science, 2010, Vol.10 (4), p.316-324
2010
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