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Thermo-Mechanical Reliability of Double-Sided IGBT Assembly Bonded by Sintered Nanosilver
IEEE transactions on device and materials reliability, 2014-03, Vol.14 (1), p.194-202
2014
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Distributed Congestion Control Approaches for the IEEE 802.11p Vehicular Networks
IEEE intelligent transportation systems magazine, 2013, Vol.5 (4), p.50-61
2013
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Evolutionary Computation Meets Machine Learning: A Survey
IEEE computational intelligence magazine, 2011-11, Vol.6 (4), p.68-75
2011
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Reliability of High-Mobility InGaAs Channel n-MOSFETs Under BTI Stress
IEEE transactions on device and materials reliability, 2013-12, Vol.13 (4), p.515-523
2013
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BAGKD: A Batch Authentication and Group Key Distribution Protocol for VANETs
IEEE communications magazine, 2020-07, Vol.58 (7), p.35-41
2020
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