Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE transactions on device and materials reliability, 2024-09, p.1-1
2024
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on device and materials reliability, 2006-09, Vol.6 (3), p.377-385
2006
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on device and materials reliability, 2024-03, Vol.24 (1), p.14-19
2024
Volltextzugriff (PDF)
IEEE electrical insulation magazine, 2013-03, Vol.29 (2), p.8-15
2013
Volltextzugriff (PDF)
IEEE microwave magazine, 2007-10, Vol.8 (5), p.88-97
2007
Volltextzugriff (PDF)
Wired (San Francisco, Calif.), 2014-03, Vol.22 (3), p.np-np
2014
Volltextzugriff (PDF)
IEEE aerospace and electronic systems magazine, 2020-08, Vol.35 (8), p.32-36
2020
Volltextzugriff (PDF)
IEEE electrical insulation magazine, 2023-07, Vol.39 (4), p.34-49
2023
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on device and materials reliability, 2015-12, Vol.15 (4), p.638-638
2015
Volltextzugriff (PDF)
Flight international, 2011-10, Vol.180 (5314), p.9-9
2011
Volltextzugriff (PDF)
Wired (San Francisco, Calif.), 2010-02, Vol.18 (2), p.np-np
2010
Volltextzugriff (PDF)
IEEE electrical insulation magazine, 2009-07, Vol.25 (4), p.19-25
2009
Volltextzugriff (PDF)
IEEE electrical insulation magazine, 2008-11, Vol.24 (6), p.30-34
2008
Volltextzugriff (PDF)
IEEE microwave magazine, 2006-08, Vol.7 (4), p.104-104
2006
Volltextzugriff (PDF)
Modern steel construction, 2023-10, Vol.63 (10), p.26
2023
Volltextzugriff (PDF)
IEEE electrical insulation magazine, 2014-11, Vol.30 (6), p.20-25
2014
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on device and materials reliability, 2011-06, Vol.11 (2), p.290-294
2011
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on device and materials reliability, 2001-09, Vol.1 (3), p.150-157
2001
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on device and materials reliability, 2001-03, Vol.1 (1), p.43-59
2001
Volltextzugriff (PDF)
Nursing times (1987), 1989-03, Vol.85 (1 Mar 89), p.28-31
1989
Volltextzugriff (PDF)
The Economist (London), 1989-09, Vol.312 (2 Sep 89), p.53-54
1989
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on device and materials reliability, 2001-06, Vol.1 (2), p.120-127
2001
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on device and materials reliability, 2020-06, Vol.20 (2), p.228-229
2020
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on device and materials reliability, 2019-06, Vol.19 (2), p.298-303
2019
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on device and materials reliability, 2014-03, Vol.14 (1), p.327-332
2014
Volltextzugriff (PDF)
Aktive Filter
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Science & Technology
- Technology
- Breakdown
- Electric Breakdown
- Engineering
- Engineering, Electrical & Electronic
- Dielectric Breakdown
- Breakdown Voltage
- Dielectrics And Electrical Insulation
- Voltage
- Laser Induced Breakdown Spectroscopy
- Electrical Insulation
- Insulation
- Stress
- Electrodes
- Lasers
- Electric Potential
- Dielectrics
- Degradation
- Spectroscopy
Kollektion
- IngentaConnect
- IEEE Xplore
- EZB Electronic Journals Library
- EBSCOhost Business Source Ultimate
- Nexis Uni
- Publisher or Other Site
- Elsevier ScienceDirect Journals Complete
- Applied Social Sciences Index & Abstracts (ASSIA)
- MEDLINE
- PAIS Index
- Worldwide Political Science Abstracts
- JSTOR
- Journals@Ovid
- Wiley-Blackwell Journals
- Taylor & Francis:Master (3349 titles)
- IngentaConnect Journals
- SpringerLink Series
- Taylor & Francis Journals
- Taylor & Francis
Zeitschrift / Serie
Neu hinzugefügt