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RF functional-based complete FA flow
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Proceedings - International Test Conference, 2002, p.1031-1039
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International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003, 2003, Vol.1, p.379-385
2003
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Yield analysis of logic circuits
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2004
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Proceedings of the 2002 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing (MTDT2002), 2002, p.12-16
2002
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IEEE design & test of computers, 2004-05, Vol.21 (3), p.208-215
2004
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Proceedings of the Eighth IEEE International On-Line Testing Workshop (IOLTW 2002), 2002, p.206-210
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The Eighth IEEE European Test Workshop, 2003. Proceedings, 2003, p.65-70
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The Journal of physiology, 2020-08, Vol.598 (15), p.3067-3069
2020
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