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1991 Proceedings Eighth International IEEE VLSI Multilevel Interconnection Conference, 1991, p.442-444
1991
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1999 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 37th Annual (Cat. No.99CH36296), 1999, p.52-56
1999
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1999 4th International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (IEEE Cat. No.99TH8395), 1999, p.137-140
1999
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1999 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 37th Annual (Cat. No.99CH36296), 1999, p.396-399
1999
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