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2015
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The Journal of Agriculture and Development, 2024-03, Vol.23 (1), p.25-39
2024
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JURNAL BIOSAINS, 2020-12, Vol.6 (3), p.90
2020
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International Vacuum Nanoelectronics Conference, 2010, p.13-13
2010
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Scientific American, 2001-07, Vol.285 (1), p.66-73
2001
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2006 Conference on Lasers and Electro-Optics and 2006 Quantum Electronics and Laser Science Conference, 2006, p.1-2
2006
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Physical review. A, Atomic, molecular, and optical physics, 2004-11, Vol.70 (5), Article 053831
2004
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Channeling radiation beyond the continuum model : the phonon Lamb shift and higher-order corrections
1993
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Physical review. E, Statistical, nonlinear, and soft matter physics, 2005-02, Vol.71 (2 Pt 2), p.026602-026602, Article 026602
2005
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Physical review. A, Atomic, molecular, and optical physics, 1992-05, Vol.45 (9), p.6468-6478
1992
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Physical review. A, Atomic, molecular, and optical physics, 1996-03, Vol.53 (3), p.1653-1667
1996
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2017 IEEE Wireless Communications and Networking Conference (WCNC), 2017, p.1-6
2017
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IEEE transactions on magnetics, 2018-11, Vol.54 (11), p.1-5
2018
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Aquaculture, Aquarium, Conservation & Legislation, 2024-04, Vol.17 (2), p.542-554
2024
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IEEE transactions on magnetics, 2018-06, Vol.54 (6), p.1-4
2018
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Malaysian Journal of Microbiology, 2022-04
2022
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The American journal of case reports, 2021-04, Vol.22, p.e931080-e931080
2021
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2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022, p.6B.3-1-6B.3-6
2022
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IEEE transactions on magnetics, 2018-11, Vol.54 (11), p.1-5
2018
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1, 2023
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2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-4
- Lee, T. Y.
- Yamane, K.
- Hau, L. Y.
- Chao, R.
- Chung, N. L.
- Naik, V. B.
- Sivabalan, K.
- Kwon, J.
- Lim, J. H.
- Neo, W. P.
- Khua, K.
- Thiyagarajah, N.
- Jang, S. H.
- Behin-Aein, B.
- Toh, E. H.
- Otani, Y.
- Zeng, D.
- Balasankaran, N.
- Goh, L. C.
- Ling, T.
- Hwang, J.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Tan, S. L
- Seet, C. S.
- Ting, J. W.
- Ong, S.
- You, Y. S.
- Woo, S. T.
- Quek, E.
- Siah, S. Y.
2020
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
- Naik, V. B.
- Yamane, K.
- Lim, J. H.
- Lee, T. Y.
- Kwon, J.
- Aein, Behin
- Chung, N. L.
- Hau, L. Y.
- Chao, R.
- Zeng, D.
- Otani, Y.
- Chiang, C
- Huang, Y.
- Pu, L.
- Thiyagarajah, N.
- Jang, S. H.
- Neo, W. P.
- Dixit, H.
- Aris, S.K
- Goh, L. C.
- Ling, T.
- Hwang, J.
- Ting, J. W.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Balasankaran, N.
- Seet, C. S.
- Ong, S.
- Wong, J.
- You, Y. S.
- Woo, S. T.
- Siah, S. Y.
2020
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
- Lee, T. Y.
- Yamane, K.
- Kwon, J.
- Naik, V. B.
- Otani, Y.
- Zeng, D.
- Lim, J. H.
- Sivabalan, K.
- Chiang, C.
- Huang, Y.
- Jang, S. H.
- Hau, L. Y.
- Chao, R.
- Chung, N. L.
- Neo, W. P.
- Khua, K.
- Thiyagarajah, N.
- Ling, T.
- Goh, L. C.
- Hwang, J.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Balasankaran, N.
- Tan, F.
- Wong, J.
- Seet, C. S.
- Ting, J. W.
- Ong, S.
- You, Y. S.
- Woo, S. T.
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