Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
2008 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, 2008, p.1684-1687
2008
Volltextzugriff (PDF)

2015 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS), 2015, p.7-12
2015
Volltextzugriff (PDF)

2010 11th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2010, p.211-218
2010
Volltextzugriff (PDF)

21st International Conference on VLSI Design (VLSID 2008), 2008, p.33-38
2008
Volltextzugriff (PDF)

2010 18th IEEE/IFIP International Conference on VLSI and System-on-Chip, 2010, p.286-291
2010
Volltextzugriff (PDF)

21st International Conference on VLSI Design (VLSID 2008), 2008, p.629-634
2008
Volltextzugriff (PDF)

2012 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, 2012, p.141-146
2012
Volltextzugriff (PDF)

Thirteenth International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2012, p.57-62
2012
Volltextzugriff (PDF)

2013 International Mutli-Conference on Automation, Computing, Communication, Control and Compressed Sensing (iMac4s), 2013, p.450-454
2013
Volltextzugriff (PDF)

2011 12th International Symposium on Quality Electronic Design, 2011, p.1-6
2011
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, 2004, Vol.2, p.1388-1389 Vol.2
2004
Volltextzugriff (PDF)

2009 15th IEEE International On-Line Testing Symposium, 2009, p.210-211
2009
Volltextzugriff (PDF)

Journal of the Institution of Electronics and Telecommunication Engineers, 1997-01, Vol.43 (1), p.41-48
1997
Volltextzugriff (PDF)

2023 IEEE 50th Photovoltaic Specialists Conference (PVSC), 2023, p.1-3
2023
Volltextzugriff (PDF)

2023 IEEE 50th Photovoltaic Specialists Conference (PVSC), 2023, p.1-3
2023
Volltextzugriff (PDF)

2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2020, p.1-4
2020
Volltextzugriff (PDF)

2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2021, p.1-6
2021
Volltextzugriff (PDF)


Journal of the Institution of Electronics and Telecommunication Engineers, 2023-09, Vol.69 (8), p.5566-5573
2023
Volltextzugriff (PDF)

2015 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS), 2015, p.17-20
2015
Volltextzugriff (PDF)

2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2020, p.1-6
2020
Volltextzugriff (PDF)

2013 Proceedings of IEEE Southeastcon, 2013, p.1-6
2013
Volltextzugriff (PDF)

2021 Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO), 2021, p.1-2
2021
Volltextzugriff (PDF)

2020 5th International Conference on Logistics Operations Management (GOL), 2020, p.1-11
2020
Volltextzugriff (PDF)

2022 IEEE 28th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2022, p.1-5
2022
Volltextzugriff (PDF)
Aktive Filter
Nur zeigenGeprüft (Peer-Review)
ThemaEngineering, Electrical & Electronic