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2008
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2015 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS), 2015, p.7-12
2015
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IEE proceedings. Computers and digital techniques, 2002-05, Vol.149 (3), p.82
2002
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21st International Conference on VLSI Design (VLSID 2008), 2008, p.33-38
2008
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2010 18th IEEE/IFIP International Conference on VLSI and System-on-Chip, 2010, p.286-291
2010
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2006 IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop, 2006, p.48-54
2006
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IEE proceedings. Computers and digital techniques, 2000-11, Vol.147 (6), p.451
2000
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21st International Conference on VLSI Design (VLSID 2008), 2008, p.629-634
2008
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2012 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, 2012, p.141-146
2012
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Thirteenth International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2012, p.57-62
2012
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2013 International Mutli-Conference on Automation, Computing, Communication, Control and Compressed Sensing (iMac4s), 2013, p.450-454
2013
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2011 12th International Symposium on Quality Electronic Design, 2011, p.1-6
2011
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Proceedings Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, 2004, Vol.2, p.1388-1389 Vol.2
2004
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2009 15th IEEE International On-Line Testing Symposium, 2009, p.210-211
2009
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Tenth IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop, 2005, 2005, p.135-142
2005
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Proceedings. Ninth IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop (IEEE Cat. No.04EX940), 2004, p.61-66
2004
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International journal of advanced computer science & applications, 2020, Vol.11 (8)
2020
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Journal of industrial information integration, 2023-02, Vol.31, p.100412, Article 100412
2023
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International journal of information technology (Singapore. Online), 2024, Vol.16 (2), p.1221-1229
2024
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Emerging Trends in Intelligent Computing and Informatics, p.216-226
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2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2020, p.1-4
2020
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2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2021, p.1-6
2021
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Computers, materials & continua, 2023, Vol.75 (2), p.4553-4571
2023
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2015 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS), 2015, p.17-20
2015
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