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2024
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Journal of Ovonic Research, 2023-11, Vol.19 (6), p.615-622
2023
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Chalcogenide letters, 2023-12, p.863-870
2023
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Chalcogenide letters, 2023-11, p.789-796
2023
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2008 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, 2008, p.1684-1687
2008
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2015 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS), 2015, p.7-12
2015
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IEE proceedings. Computers and digital techniques, 2002-05, Vol.149 (3), p.82
2002
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2010 11th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2010, p.211-218
2010
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21st International Conference on VLSI Design (VLSID 2008), 2008, p.33-38
2008
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2010 18th IEEE/IFIP International Conference on VLSI and System-on-Chip, 2010, p.286-291
2010
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2006 IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop, 2006, p.48-54
2006
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IEE proceedings. Computers and digital techniques, 2000-11, Vol.147 (6), p.451
2000
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21st International Conference on VLSI Design (VLSID 2008), 2008, p.629-634
2008
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2012 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, 2012, p.141-146
2012
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Thirteenth International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2012, p.57-62
2012
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2013 International Mutli-Conference on Automation, Computing, Communication, Control and Compressed Sensing (iMac4s), 2013, p.450-454
2013
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2011 12th International Symposium on Quality Electronic Design, 2011, p.1-6
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Proceedings Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, 2004, Vol.2, p.1388-1389 Vol.2
2004
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2009 15th IEEE International On-Line Testing Symposium, 2009, p.210-211
2009
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Tenth IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop, 2005, 2005, p.135-142
2005
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Proceedings. Ninth IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop (IEEE Cat. No.04EX940), 2004, p.61-66
2004
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Journal of the Institution of Electronics and Telecommunication Engineers, 1997-01, Vol.43 (1), p.41-48
1997
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2023 IEEE 50th Photovoltaic Specialists Conference (PVSC), 2023, p.1-3
2023
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International journal of advanced computer science & applications, 2020, Vol.11 (8)
2020
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International journal of industrial engineering computations, 2023-01, Vol.14 (3), p.451-466
2023
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