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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Microelectronics and reliability, 2006-09, Vol.46 (9), p.1563-1568
2006
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Microelectronics and reliability, 2005-09, Vol.45 (9), p.1476-1481
2005
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Microelectronics and reliability, 2004-09, Vol.44 (9), p.1529-1534
2004
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Microelectronics and reliability, 2004-09, Vol.44 (9), p.1655-1662
2004
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Microelectronics and reliability, 2004-09, Vol.44 (9), p.1715-1720
2004
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Microelectronics and reliability, 2003, Vol.43 (9), p.1639-1644
2003
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Proceedings of the 11th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IPFA 2004 (IEEE Cat. No.04TH8743), 2004, p.139-142
2004
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Optical materials express, 2012-07, Vol.2 (7), p.920-928
2012
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Optical materials express, 2012-07, Vol.2 (7), p.920-928
2012
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