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International archives of the photogrammetry, remote sensing and spatial information sciences., 2020, Vol.XLII-3/W10, p.367-373
2020
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2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2022, p.399-400
2022
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2019 Symposium on VLSI Technology, 2019, p.T222-T223
2019
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2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-5
2020
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Sub-60 mV/dec Germanium Nanowire Field-Effect Transistors with 2-nm-thick Ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2
2021
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2018 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2018, p.45-46
2018
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Intelligent Robotics and Applications, p.568-580
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2018 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2018, p.6F.8-1-6F.8-7
2018
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2017 Symposium on VLSI Technology, 2017, p.T152-T153
2017
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2019 Chinese Control Conference (CCC), 2019, p.4945-4950
2019
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Network and System Security, p.467-482
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Intelligent Robotics and Applications, p.260-271
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2017 IEEE International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management (IEEM), 2017, p.850-854
2017
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2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2017, p.2D-1.1-2D-1.5
2017
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2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-3
2020
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International archives of the photogrammetry, remote sensing and spatial information sciences., 2015, Vol.XL-5/W7 (5), p.223-228
2015
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Information Security Practice and Experience, p.537-553
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Information Security Practice and Experience, p.578-594
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2016 IEEE-EMBS International Conference on Biomedical and Health Informatics (BHI), 2016, p.110-113
2016
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Information Security Practice and Experience, p.69-86
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1. Aufl., 2011
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2022 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2022, p.20.2.1-20.2.4
2022
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2022 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2022, p.20.5.1-20.5.4
- Yu, X.-R.
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- Chang, S.-W.
- Chang, W.-H.
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- Lin, J.-H.
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- Sun, T.-C.
- Kola, S.
- Yang, Y.-S.
- Da, Yun
- Sung, P.-J.
- Wu, C.-T.
- Cho, T.-C.
- Luo, G.-L.
- Kao, K.-H.
- Chiang, M.-H.
- Ma, W. C.-Y.
- Su, C.-J.
- Chao, T.-S.
- Maeda, T.
- Samukawa, S.
- Li, Y.
- Lee, Y.-J.
- Wu, W.-F.
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- Wang, Y.-H.
2022
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International archives of the photogrammetry, remote sensing and spatial information sciences., 2014, Vol.XL-8 (8), p.493-498
2014
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