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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...2012 IEEE International Conference on Consumer Electronics (ICCE), 2012, p.386-387
2012
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Proceedings of the IEEE 1998 International Interconnect Technology Conference (Cat. No.98EX102), 1998, p.107-109
1998
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Examination and improvement of reading disturb characteristics of a surrounded gate STTM memory cell
2003
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Materials Research Society Symposia Proceedings, 2001, p.B6.13.1-B6.13.6
2001
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Computational Science – ICCS 2005, 2005, p.850-853
2005
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Proceedings of 1994 IEEE International Electron Devices Meeting, 1994, p.635-638
1994
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Cytopathology, 2009, Vol.20 (3), p.202-205
2009
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2004 Symposium on VLSI Circuits. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.04CH37525), 2004, p.34-35
2004
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2002 Symposium on VLSI Circuits. Digest of Technical Papers (Cat. No.02CH37302), 2002, p.116-117
2002
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2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024, p.1-7
2024
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2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2022, p.369-370
2022
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Blood, 2023, Vol.142 (Supplement 1), p.2189-2189
- Orti, Guillermo
- Peczynski, Christophe
- Koenecke, Christian
- Boreland, William
- O'Reilly, Maeve
- Bornhäuser, Martin
- Balduzzi, Adriana
- Besley, Caroline
- Kalwak, Krzysztof
- Ryhanen, Samppa
- Güngör, Tayfun
- Wynn, Robert F.
- Bader, Peter
- Mielke, Stephan
- Blaise, Didier
- Amrolia, Persis
- Yakoub-Agha, Ibrahim
- Calkoen, Friso G. J.
- Schubert, Maria-Luisa
- Potter, Victoria
- Holter, Wolfgang
- Kröger, Nicolaus
- Kwon, Mi
- Sengeloev, Henrik
- Schoemans, Helene
- Moiseev, Ivan Sergeevich
- Penack, Olaf
- Peric, Zinaida
2023
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2018 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2018, p.59-60
2018
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2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024, p.1-6
2024
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2016 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2016, p.1-2
- Cho, H.-J.
- Oh, H.S.
- Nam, K.J.
- Kim, Y.H.
- Yeo, K.H.
- Kim, W.D.
- Chung, Y.S.
- Nam, Y.S.
- Kim, S.M.
- Kwon, W.H.
- Kang, M.J.
- Kim, I.R.
- Fukutome, H.
- Jeong, C.W.
- Shin, H.J.
- Kim, Y.S.
- Kim, D.W.
- Park, S.H.
- Jeong, J.H.
- Kim, S.B.
- Ha, D.W.
- Park, J.H.
- Rhee, H.S.
- Hyun, S.J.
- Shin, D.S.
- Kim, D.H.
- Kim, H.Y.
- Maeda, S.
- Lee, K.H.
- Kim, M.C.
- Koh, Y.S.
- Yoon, B.
- Shin, K.
- Lee, N.I.
- Kangh, S.B.
- Hwang, K.H.
- Lee, J.H.
- Ku, J.-H.
- Nam, S.W.
- Jung, S.M.
- Kang, H.K.
- Yoon, J.S.
- Jung, E.S.
2016
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2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023, p.1-5
2023
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
2020
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2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2022, p.397-398
2022
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2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2018, p.28.7.1-28.7.4
- Bae, Geumjong
- Bae, D.-I.
- Kang, M.
- Hwang, S.M.
- Kim, S.S.
- Seo, B.
- Kwon, T.Y.
- Lee, T.J.
- Moon, C.
- Choi, Y.M.
- Oikawa, K.
- Masuoka, S.
- Chun, K.Y.
- Park, S.H.
- Shin, H.J.
- Kim, J.C.
- Bhuwalka, K.K.
- Kim, D.H.
- Kim, W.J.
- Yoo, J.
- Jeon, H.Y.
- Yang, M.S.
- Chung, S.-J.
- Kim, D.
- Ham, B.H.
- Park, K.J.
- Kim, W.D.
- Song, G.
- Kim, Y.H.
- Kang, M.S.
- Hwang, K.H.
- Park, C.-H.
- Lee, J.-H.
- Kim, D.-W.
- Jung, S-M.
- Kang, H.K.
2018
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2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022, p.6B.3-1-6B.3-6
2022
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2016 European Conference on Silicon Carbide & Related Materials (ECSCRM), 2017, Vol.897, p.1-1, Article 455
2017
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Advances in Knowledge Discovery and Data Mining, p.566-577
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