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Contact Dermatitis
Fourth Edition., 2006
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Assessing Exposure of Pesticides to Bees
Pesticide Risk Assessment for Pollinators, 2014 (1ère ed.), p.45-74
2014
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A statistical tool for probing the coupling between noisy traps in semiconductor devices, with application to 1/f noise in SiGe HBTs
Digest of Papers. 2004 Topical Meeting onSilicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems, 2004, 2004, p.119-122
2004
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Geometry-dependent low-frequency noise variations in 120 GHz f/sub T/ SiGe HBTs
2003 Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems, 2003. Digest of Papers, 2003, p.57-59
2003
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On the scaling limits of low-frequency noise in SiGe HBTs
International Semiconductor Device Research Symposium, 2003, 2003, p.12-13
2003
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An investigation of the damage mechanisms in impact ionization-induced "mixed-mode" reliability stressing of scaled SiGe HBTs
IEEE International Electron Devices Meeting 2003, 2003, p.7.8.1-7.8.4
2003
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