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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2019, p.2.3.1-2.3.4
- Naik, V. B.
- Lim, J. H.
- Lee, T. Y.
- Neo, W. P.
- Dixit, H.
- K, S.
- Goh, L. C.
- Ling, T.
- Hwang, J.
- Zeng, D.
- Ting, J. W.
- Lee, K.
- Toh, E. H.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Balasankaran, N.
- Zhang, L. Y.
- Gan, K. W.
- Hau, L. Y.
- Mueller, J.
- Pfefferling, B.
- Kallensee, O.
- Yamane, K.
- Tan, S. L.
- Seet, C. S.
- You, Y. S.
- Woo, S. T.
- Quek, E.
- Siah, S. Y.
- Pellerin, J.
- Chao, R.
- Kwon, J.
- Thiyagarajah, N.
- Chung, N. L.
- Jang, S. H.
- Behin-Aein, B.
2019
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2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-4
- Lee, T. Y.
- Yamane, K.
- Hau, L. Y.
- Chao, R.
- Chung, N. L.
- Naik, V. B.
- Sivabalan, K.
- Kwon, J.
- Lim, J. H.
- Neo, W. P.
- Khua, K.
- Thiyagarajah, N.
- Jang, S. H.
- Behin-Aein, B.
- Toh, E. H.
- Otani, Y.
- Zeng, D.
- Balasankaran, N.
- Goh, L. C.
- Ling, T.
- Hwang, J.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Tan, S. L
- Seet, C. S.
- Ting, J. W.
- Ong, S.
- You, Y. S.
- Woo, S. T.
- Quek, E.
- Siah, S. Y.
2020
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
- Naik, V. B.
- Yamane, K.
- Lim, J. H.
- Lee, T. Y.
- Kwon, J.
- Aein, Behin
- Chung, N. L.
- Hau, L. Y.
- Chao, R.
- Zeng, D.
- Otani, Y.
- Chiang, C
- Huang, Y.
- Pu, L.
- Thiyagarajah, N.
- Jang, S. H.
- Neo, W. P.
- Dixit, H.
- Aris, S.K
- Goh, L. C.
- Ling, T.
- Hwang, J.
- Ting, J. W.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Balasankaran, N.
- Seet, C. S.
- Ong, S.
- Wong, J.
- You, Y. S.
- Woo, S. T.
- Siah, S. Y.
2020
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
- Lee, T. Y.
- Yamane, K.
- Kwon, J.
- Naik, V. B.
- Otani, Y.
- Zeng, D.
- Lim, J. H.
- Sivabalan, K.
- Chiang, C.
- Huang, Y.
- Jang, S. H.
- Hau, L. Y.
- Chao, R.
- Chung, N. L.
- Neo, W. P.
- Khua, K.
- Thiyagarajah, N.
- Ling, T.
- Goh, L. C.
- Hwang, J.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Balasankaran, N.
- Tan, F.
- Wong, J.
- Seet, C. S.
- Ting, J. W.
- Ong, S.
- You, Y. S.
- Woo, S. T.
- Siah, S. Y.
2020
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Studies in Surface Science and Catalysis, 2007, Vol.170, p.1963-1968
2007
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Ferroelectrics, 2004, Vol.298 (1), p.103-106
2004
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2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, p.11.6.1-11.6.4
2020
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2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022, p.6B.3-1-6B.3-6
2022
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2018 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2018, p.183-184
- Lee, K.
- Yamane, K.
- Noh, S.
- Naik, V. B.
- Yang, H.
- Jang, S. H.
- Kwon, J.
- Behin-Aein, B.
- Chao, R.
- Lim, J. H.
- S. K.
- Gan, K. W.
- Zeng, D.
- Thiyagarajah, N.
- Goh, L. C.
- Liu, B.
- Toh, E. H.
- Jung, B.
- Wee, T. L.
- Ling, T.
- Chan, T. H.
- Chung, N. L.
- Ting, J. W.
- Lakshmipathi, S.
- Son, J. S.
- Hwang, J.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Krishnan, R.
- Kitamura, T.
- You, Y. S.
- Seet, C. S.
- Cong, H.
- Shum, D.
- Wong, J.
- Woo, S. T.
- Lam, J.
- Quek, E.
- See, A.
- Siah, S. Y.
2018
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2021 Symposium on VLSI Technology, 2021, p.1-2
- Naik, V. B.
- Yamane, K.
- Kwon, J.
- K, S.
- Lim, J. H.
- Ali, Z.
- Behin-Aein, B.
- Chung, N. L.
- Hau, L. Y.
- Chao, R.
- Chiang, C.
- Huang, Y.
- Pu, L.
- Otani, Y.
- Dixit, H.
- Jang, S. H.
- Balasankaran, N.
- Tan, F.
- Neo, W. P.
- Goh, L. C.
- Toh, E. H.
- Ling, T.
- Ting, J. W.
- Yoon, H.
- Congedo, G.
- Mueller, J.
- Pfefferling, B.
- Kallensee, O.
- Vogel, A.
- Merbeth, T.
- Seet, C. S.
- Wong, J.
- Bordelon, J.
- You, Y. S.
- Soss, S.
- Chan, T. H.
- Quek, E.
- Siah, S. Y.
2021
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Advanced materials research, 2014, Vol.838-841, p.3176-3179
2014
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Advanced materials research, 2014, Vol.838-841, p.3296-3299
2014
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2012 Abstracts IEEE International Conference on Plasma Science, 2012, p.2P-54-2P-54
2012
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Comprehensive Nanoscience and Technology, 2011, Vol.1, p.143-187
2011
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Procedia engineering, 2011, Vol.14, p.3151-3154
2011
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2010 IEEE International Vacuum Electronics Conference (IVEC), 2010, p.265-266
2010
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2012 Abstracts IEEE International Conference on Plasma Science, 2012, p.1P-26-1P-26
2012
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Advanced Web and Network Technologies, and Applications, 2006, p.525-533
2006
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2022 6th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2022, p.366-368
2022
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2011 IEEE/NPSS 24th Symposium on Fusion Engineering, 2011, p.1-8
2011
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2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2018, p.27.1.1-27.1.4
2018
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High Performance Computing and Communications, 2005, p.348-353
1ère éd, 2005
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2010 Abstracts IEEE International Conference on Plasma Science, 2010, p.1-1
2010
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