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2008 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, 2008, p.241-244
2008
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2009 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, 2009, p.1-4
2009
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2009 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, 2009, p.1-4
2009
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Strained MOSFETs on ordered SiGe dots
2010 Proceedings of the European Solid State Device Research Conference, 2010, p.297-300
2010
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2005 International Conference On Simulation of Semiconductor Processes and Devices, 2005, p.147-150
2005
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Epilepsy & behavior case reports, 2017, Vol.7, p.6-9
2017
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2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2010, p.1-5
2010
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2009 17th IFIP International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2009, p.23-28
2009
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2010 Conference on Optical Fiber Communication (OFC/NFOEC), collocated National Fiber Optic Engineers Conference, 2010, p.1-3
2010
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2009 16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2009, p.694-697
2009
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2009 16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2009, p.731-734
2009
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2008 15th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2008, p.1-4
2008
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2009-03, Vol.9 (1), p.9-19
2009
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