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Odds and Ends
Multiple Imputation in Practice, 2018, Vol.1, p.181-206
2, 2018
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Categorical Data Analysis
Multiple Imputation in Practice, 2018, Vol.1, p.79-98
2, 2018
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Structural Equation Models
Multiple Imputation in Practice, 2018, Vol.1, p.110-119
2, 2018
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Survival Analysis
Multiple Imputation in Practice, 2018, Vol.1, p.99-109
2, 2018
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Linear Models
Multiple Imputation in Practice, 2018, Vol.1, p.45-61
2, 2018
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Multiple Imputation in Practice, 2018, Vol.1, p.149-162
2, 2018
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Descriptive Statistics
Multiple Imputation in Practice, 2018, Vol.1, p.33-44
2, 2018
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Generalized Linear Model
Multiple Imputation in Practice, 2018, Vol.1, p.62-77
2, 2018
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Basic Concepts
Multiple Imputation in Practice, 2018, Vol.1, p.1-32
2, 2018
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Sensitivity Analysis
Multiple Imputation in Practice, 2018, Vol.1, p.163-179
2, 2018
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Longitudinal Data Analysis
Multiple Imputation in Practice, 2018, Vol.1, p.121-148
2, 2018
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2006 Technology Management for the Global Future - PICMET 2006 Conference, 2006, Vol.5, p.2353-2371
2006
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2004 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop (IEEE Cat. No.04CH37530), 2004, p.279-284
2004
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