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MRS proceedings, 2002, Vol.749, Article W2.2
2002
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MRS proceedings, 2000, Vol.619, Article 35
2000
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MRS proceedings, 2003, Vol.780, Article Y3.11
2003
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MRS proceedings, 1996, Vol.399, Article 89
1996
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MRS proceedings, 1993, Vol.312, Article 255
1993
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MRS proceedings, 1998, Vol.528, Article 253
1998
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Modelling of Failure Time Distributions for Interconnects Due to Stress Voiding and Electromigration
1998
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Journal of crystal growth, 1997, Vol.174 (1-4), p.851-857
1997
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On the Move to Meaningful Internet Systems: OTM 2019 Conferences, p.113-126
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Design and Test Rig Experiments of a High Speed Tapered Roller Bearing for Main Spindle Applications
2016
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- Lechner, A
- Schrodl, M
- Brenner, E
- Seifter, P
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- Pavuza, F
- Beszedics, U
- Doblinger, G
- Wokurek, W
1989 edition, 2013
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2009 35th Annual Conference of IEEE Industrial Electronics, 2009, p.184-189
2009
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2011 IEEE SENSORS Proceedings, 2011, p.109-112
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2009 35th Annual Conference of IEEE Industrial Electronics, 2009, p.1298-1303
2009
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2009 35th Annual Conference of IEEE Industrial Electronics, 2009, p.492-497
2009
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1, 1911
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- Altenburg, H
- Bang, I
- Bartelt, K
- Baum
- Brahm, C
- Cramer, W
- Dieterich, K
- Ditmar, R
- Dohrn, M
- Einbeck, H
- Knoop, Fr
- Kobert, R.
- Thiele, A.
- Willstätter, R.
- Bartelt, K.
- Hesse, O.
- v. Fürth, O.
- Samuely, Fr
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- Helle, J.
- Rupe, H.
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- Euler, H.
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- Schmid, J.
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- Siegfried, M.
- Brahm, C.
- Schmitz, E.
- Windaus, A.
1, 1911
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1, 1911
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Softcover reprint of the original 1st Edition 1911, 2013
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