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Radiation-Induced Soft Error Rates of Advanced CMOS Bulk Devices
2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2006, p.217-225
2006
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Introduction to the Special Issue on Soft Errors and Data Integrity in Terrestrial Computer Systems
IEEE transactions on device and materials reliability, 2005-09, Vol.5 (3), p.303-304
2005
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ThemaPhysical Sciences
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