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2003
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2021 Symposium on VLSI Technology, 2021, p.1-2
2021
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IEEE transactions on nuclear science, 2010-10, Vol.57 (5), p.2424-2436
2010
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IEEE transactions on radiation and plasma medical sciences, 2020-03, Vol.4 (2), p.269-282
- Mattei, I.
- Alexandrov, A.
- Alunni Solestizi, L.
- Ambrosi, G.
- Argiro, S.
- Bartosik, N.
- Battistoni, G.
- Belcari, N.
- Biondi, S.
- Bisogni, M. G.
- Bruni, G.
- Camarlinghi, N.
- Carra, P.
- Catanzani, E.
- Ciarrocchi, E.
- Cerello, P.
- Clozza, A.
- Colombi, S.
- De Lellis, G.
- Del Guerra, A.
- De Simoni, M.
- Di Crescenzo, A.
- Donetti, M.
- Dong, Y.
- Durante, M.
- Embriaco, A.
- Emde, M.
- Faccini, R.
- Ferrero, V.
- Ferroni, F.
- Fiandrini, E.
- Finck, C.
- Fiorina, E.
- Fischetti, M.
- Francesconi, M.
- Franchini, M.
- Galli, L.
- Gentile, V.
- Hetzel, R.
- Hild, S.
- Iarocci, E.
- Ionica, M.
- Kanxheri, K.
- Kraan, A. C.
- Lante, V.
- Lauria, A.
- La Tessa, C.
- Lopez Torres, E.
- Massimi, C.
- Marafini, M.
- Mengarelli, A.
- Mirabelli, R.
- Montesi, M. C.
- Morone, M. C.
- Morrocchi, M.
- Muraro, S.
- Narici, L.
- Pastore, A.
- Pastrone, N.
- Patera, V.
- Pennazio, F.
- Placidi, P.
- Pullia, M.
- Ramello, L.
- Ridolfi, R.
- Rosso, V.
- Rovituso, M.
- Sanelli, C.
- Sartorelli, G.
- Sato, O.
- Savazzi, S.
- Scavarda, L.
- Schiavi, A.
- Schuy, C.
- Scifoni, E.
- Sciubba, A.
- Secher, A.
- Selvi, M.
- Servoli, L.
- Silvestre, G.
- Sitta, M.
- Spighi, R.
- Spiriti, E.
- Sportelli, G.
- Stahl, A.
- Tomassini, S.
- Tommasino, F.
- Traini, G.
- Toppi, M.
- Valeri, T.
- Valle, S. M.
- Vanstalle, M.
- Villa, M.
- Weber, U.
- Zoccoli, A.
- Sarti, A.
2020
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IEEE transactions on radiation and plasma medical sciences, 2020-03, Vol.4 (2), p.269-282
- Mattei, I.
- Bisogni, M. G.
- Bruni, G.
- Camarlinghi, N.
- Carra, P.
- Catanzani, E.
- Ciarrocchi, E.
- Cerello, P.
- Clozza, A.
- Colombi, S.
- De Lellis, G.
- Alexandrov, A.
- Del Guerra, A.
- De Simoni, M.
- Di Crescenzo, A.
- Donetti, M.
- Dong, Y.
- Durante, M.
- Embriaco, A.
- Emde, M.
- Faccini, R.
- Ferrero, V.
- Alunni Solestizi, L.
- Ferroni, F.
- Fiandrini, E.
- Finck, C.
- Fiorina, E.
- Fischetti, M.
- Francesconi, M.
- Franchini, M.
- Galli, L.
- Gentile, V.
- Hetzel, R.
- Ambrosi, G.
- Hild, S.
- Iarocci, E.
- Ionica, M.
- Kanxheri, K.
- Kraan, A. C.
- Lante, V.
- Lauria, A.
- La Tessa, C.
- Lopez Torres, E.
- Massimi, C.
- Argiro, S.
- Marafini, M.
- Mengarelli, A.
- Mirabelli, R.
- Montesi, M. C.
- Morone, M. C.
- Morrocchi, M.
- Muraro, S.
- Narici, L.
- Pastore, A.
- Pastrone, N.
- Bartosik, N.
- Patera, V.
- Pennazio, F.
- Placidi, P.
- Pullia, M.
- Ramello, L.
- Ridolfi, R.
- Rosso, V.
- Rovituso, M.
- Sanelli, C.
- Sartorelli, G.
- Battistoni, G.
- Sato, O.
- Savazzi, S.
- Scavarda, L.
- Schiavi, A.
- Schuy, C.
- Scifoni, E.
- Sciubba, A.
- Secher, A.
- Selvi, M.
- Servoli, L.
- Belcari, N.
- Silvestre, G.
- Sitta, M.
- Spighi, R.
- Spiriti, E.
- Sportelli, G.
- Stahl, A.
- Tomassini, S.
- Tommasino, F.
- Traini, G.
- Toppi, M.
- Biondi, S.
- Valeri, T.
- Valle, S. M.
- Vanstalle, M.
- Villa, M.
- Weber, U.
- Zoccoli, A.
- Sarti, A.
2020
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2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023, p.1-4
2023
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XXII International Conference, 2010, Vol.1267, p.644-644
2010
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2009 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record (NSS/MIC), 2009, p.3534-3541
2009
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2019 IEEE 8th International Workshop on Advances in Sensors and Interfaces (IWASI), 2019, p.37-41
2019
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2008 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, 2008, p.319-322
2008
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IEEE Symposium Conference Record Nuclear Science 2004, 2004, Vol.1, p.410-412 Vol. 1
2004
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2017 7th IEEE International Workshop on Advances in Sensors and Interfaces (IWASI), 2017, p.90-94
2017
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2008 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, 2008, p.366-369
2008
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IEEE computational science & engineering, 1996-09, Vol.3 (3), p.4-8
1996
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IEEE Transactions on Nuclear Science (Institute of Electrical and Electronics Engineers); (United States), 1994-08, Vol.41 (4), p.772-778
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- Camps, C.
- Caria, M.
- Castellini, G.
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- Coan, T.E.
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- Extermann, P.
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- Krastev, V.R.
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- Lebeau, M.
- Lecomte, P.
- Lee, D.M.
- Leiste, R.
- Lejeune, E.
- Lin, W.T.
- Lohmann, W.
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- Nowak, H.
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- Pensotti, S.
- Perrin, E.
- Rancoita, P.G.
- Rattaggi, M.
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- Schmitz, P.
- Schoeniech, B.
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- Susinno, G.F.
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- Thompson, T.C.
- Tonisch, F.
- Toth, J.
- Trowitzsch, G.
- Viertel, G.M.
- Vogt, H.
- Waldmeier, S.
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- Zhou, B.
1994
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IEEE aerospace and electronic systems magazine, 2014-04, Vol.29 (4), p.4-13
- Alberti, G.
- Alvino, A.
- Ambrosi, G.
- Bardet, M.
- Battiston, R.
- Borsini, S.
- Cao, J. F.
- Chen, Y.
- van Es, J.
- Gargiulo, C.
- Guo, K. H.
- Guo, L.
- He, Z. H.
- Huang, Z. C.
- Koutsenko, V.
- Laudi, E.
- Lebedev, A.
- Lee, S. C.
- Li, T. X.
- Lin, Y. L.
- Lv, S. S.
- Menichelli, M.
- Miao, J. Y.
- Mo, D. C.
- Ni, J. Q.
- Pauw, A.
- Qi, X. M.
- Shue, G. M.
- Sun, D. J.
- Sun, X. H.
- Tang, C. P.
- Verlaat, B.
- Wang, Z. X.
- Weng, Z. L.
- Xiao, W. J.
- Xu, N. S.
- Yang, F. K.
- Yeh, C. C.
- Zhang, Z.
- Zwartbol, T.
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