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  • BibTeX
IEEE/IEC International Standard for Signal and Test Definition
IEEE/IEC 62529:2024(en), 2024, p.1-360
2024
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IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Descriptions - Corrigendum 1
IEEE Std 1671.1-2017/Cor 1-2023 (Corrigendum to IEEE Std 1671.2-2017), 2024, p.1-15
2024
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IEEE Recommended Practice for Testing Transformers and Inductors for Electronics Applications
IEEE Std 389-2020 (Revision of IEEE Std 389-1996), 2020, p.1-97
2020
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IEEE Recommended Practice for Testing Transformers and Inductors for Electronics Applications - Redline
IEEE Std 389-2020 (Revision of IEEE Std 389-1996) - Redline, 2020, p.1-156
2020
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IEEE Standard for Environmental and Testing Requirements for Devices with Communications Functions used with Electric Power Apparatus
IEEE Std 1613-2023 (Revision of IEEE Std 1613-2009), 2024, p.1-48
2024
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IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture - Redline
IEEE Std 1149.7-2022 (Revision of IEEE Std 1149.7-2009) - Redline, 2022, p.1-1486
2022
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IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
IEEE Std 1149.7-2022 (Revision of IEEE Std 1149.7-2009), 2022, p.1-1048
2022
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  • BibTeX
IEEE Standard for Signal and Test Definition
IEEE Std 1641-2022 (Revision of IEEE Std 1641-2010), 2023, p.1-353
2023
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IEEE Standard for Performance and Test Requirements for Instrument Transformers of a Nominal System Voltage of 115 kV and Above
IEEE Std C57.13.5-2019 (Revision of IEEE Std C57.13.5-2009), 2020, p.1-81
2020
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IEEE Standard for Performance and Test Requirements for Instrument Transformers of a Nominal System Voltage of 115 kV and Above - Redline
IEEE Std C57.13.5-2019 (Revision of IEEE Std C57.13.5-2009) - Redline, 2020, p.1-81
2020
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  • BibTeX
IEEE Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits
IEEE Std 1500-2022 (Revision of IEEE Std 1500-2005), 2022, p.1-168
2022
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  • BibTeX
IEEE Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data
IEEE Std 1450-2023 (Revision of IEEE Std 1450-1999), 2024, p.1-147
2024
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  • BibTeX
IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505
IEEE Std 1505.1-2019 (Revision of IEEE Std 1505.1-2008), 2019, p.1-158
2019
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IEEE Guide for Testing Equipment for Direct Current Electrical Energy Meters
IEEE Std 2960-2023, 2023, p.1-31
2023
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  • BibTeX
IEEE Standard for Cable-Penetration Fire Stop Qualification Test
IEEE Std 634-2023 (Revision to IEEE Std 634-2004), 2023, p.1-33
2023
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  • BibTeX
IEEE Recommended Practice for Maintenance, Testing, and Replacement of Vented Lead-Acid Batteries for Stationary Applications - Redline
IEEE Std 450-2020 (Revision of IEEE Std 450-2010) - Redline, 2021, p.1-115
2021
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  • BibTeX
IEEE Recommended Practice for Maintenance, Testing, and Replacement of Vented Lead-Acid Batteries for Stationary Applications
IEEE Std 450-2020 (Revision of IEEE Std 450-2010), 2021, p.1-71
2021
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  • BibTeX
IEEE Guide for Control and Protection System Test of Hybrid Multi-terminal High Voltage Direct Current (HVDC) Systems
IEEE Std 2832-2023, 2023, p.1-37
2023
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  • BibTeX
IEEE Recommended Practice for Qualification of Photovoltaic (PV) Modules
IEEE Std 1262-1995, 1996, p.1-32
1996
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IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description - Redline
IEEE Std 1671.5-2015 (Revision of IEEE Std 1671.5-2008) - Redline, 2015, p.1-52
2015
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  • BibTeX
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description - Redline
IEEE Std 1671.5-2015 (Revision of IEEE Std 1671.5-2008) - Redline, 2015, p.1-52
2015
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IEEE Recommended Practice for Insulation Testing of AC Electric Machinery with High Voltage Rating up to 30 kV at Very Low Frequency
IEEE Std 433-2022 (Revision of IEEE Std 433-2009), 2022, p.1-30
2022
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IEEE Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) (IEEE Std 1450-1999) for Test Flow Specification
IEEE Std 1450.4-2017, 2018, p.1-190
2018
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  • BibTeX
IEEE Standard for Testing and Performance of Hardware for Optical Ground Wire (OPGW)
IEEE Std 1591.1-2023 (Revision of IEEE Std 1591.1-2012), 2024, p.1-61
2024
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  • BibTeX
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Descriptions
EEE Std 1671.1-2017 (Revision of IEEE Std 1671.1-2009), 2018, p.1-274
2018
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