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Proceedings International Test Conference 2000 (IEEE Cat. No.00CH37159), 2000, p.1060-1069
2000

Proceedings Sixth Asian Test Symposium (ATS'97), 1997, p.384-389
1997

Open Access
Testing for tunneling opens
Proceedings International Test Conference 2000 (IEEE Cat. No.00CH37159), 2000, p.85-94
2000

Open Access
N-Model Tests for VLSI Circuits
2008 40th Southeastern Symposium on System Theory (SSST), 2008, p.242-246
2008

Proceedings Sixth Asian Test Symposium (ATS'97), 1997, p.314-319
1997

GHz testing and its fuzzy targets
Proceedings - International Test Conference, 2002, p.1228
2002

Proceedings IEEE European Test Workshop, 2000, p.175-180
2000

Improved boundary scan design
Proceedings of 1995 IEEE International Test Conference (ITC), 1995, p.851-860
1995

2009 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, 2009, p.604-609
2009
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SprachePolnisch
PublikationsformArtikel
ThemaDelay
ThemaEngineering, Electrical & Electronic