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2021
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Physical review letters, 2014-03, Vol.112 (9), p.096801-096801, Article 096801
2014
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Journal of applied physics, 2016-10, Vol.120 (13)
2016
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Journal of physics. Conference series, 2015-10, Vol.647 (1), p.12022
2015
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Revealing origin of quasi-one dimensional current transport in defect rich two dimensional materials
2014
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Nano letters, 2015-01, Vol.15 (1), p.803-803
2015
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Applied physics letters, 2017-11, Vol.111 (19)
2017
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Physical review materials, 2023-07, Vol.7 (7), Article 075002
2023
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2022 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2022, p.1-3
2022
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ECS transactions, 2016, Vol.72 (1), p.35-44
2016
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Microelectronic engineering, 2008-05, Vol.85 (5-6), p.1092-1095
2008
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Review of scientific instruments, 2009-05, Vol.80 (5), p.053902-053902-10
2009
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2018 76th Device Research Conference (DRC), 2018, p.1-2
2018
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2018 22nd International Conference on Ion Implantation Technology (IIT), 2018, p.153-155
2018
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2017 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2017, p.1-3
2017
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2014 International Workshop on Junction Technology (IWJT), 2014, p.1-4
2014
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Meeting abstracts (Electrochemical Society), 2016-04, Vol.MA2016-01 (14), p.901-901
2016
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2014 7th International Silicon-Germanium Technology and Device Meeting (ISTDM), 2014, p.37-38
2014
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Meeting abstracts (Electrochemical Society), 2016-09, Vol.MA2016-02 (30), p.2008-2008
2016
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2012 12th International Workshop on Junction Technology, 2012, p.100-105
2012
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2009 17th International Conference on Advanced Thermal Processing of Semiconductors, 2009, p.1-6
2009
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2011 16th International Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems Conference, 2011, p.1060-1063
2011
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2009 17th International Conference on Advanced Thermal Processing of Semiconductors, 2009, p.1-6
2009
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