Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Scientific reports, 2015-07, Vol.5 (1), p.12305-12305, Article 12305
2015
Volltextzugriff (PDF)
Optics express, 2015-11, Vol.23 (24), p.30721-30729
2015
Volltextzugriff (PDF)
ACS applied materials & interfaces, 2018-09, Vol.10 (37), p.31641-31647
2018
Volltextzugriff (PDF)
Measurement science & technology, 2024-06, Vol.35 (6), p.66012
2024
Volltextzugriff (PDF)
ACS applied materials & interfaces, 2016-10, Vol.8 (39), p.26119-26125
- Wen, Liang Gong
- Roussel, Philippe
- Pedreira, Olalla Varela
- Briggs, Basoene
- Groven, Benjamin
- Dutta, Shibesh
- Popovici, Mihaela I
- Heylen, Nancy
- Ciofi, Ivan
- Vanstreels, Kris
- Østerberg, Frederik W
- Hansen, Ole
- Petersen, Dirch H
- Opsomer, Karl
- Detavernie, Christophe
- Wilson, Christopher J
- Elshocht, Sven Van
- Croes, Kristof
- Bömmels, Jürgen
- Tőkei, Zsolt
- Adelmann, Christoph
2016
Volltextzugriff (PDF)
2d materials, 2017-12, Vol.4 (4), p.42003
2017
Volltextzugriff (PDF)
Physical review letters, 2014-03, Vol.112 (9), p.096801-096801, Article 096801
2014
Volltextzugriff (PDF)
Measurement science & technology, 2022-12, Vol.33 (12), p.125001
2022
Volltextzugriff (PDF)
2d materials, 2021-02, Vol.8 (2)
- Whelan, Patrick R
- Zhou, Binbin
- Bezencenet, Odile
- Shivayogimath, Abhay
- Mishra, Neeraj
- Shen, Qian
- Jessen, Bjarke S
- Pasternak, Iwona
- Mackenzie, David M A
- Ji, Jie
- Sun, Cunzhi
- Seneor, Pierre
- Dlubak, Bruno
- Luo, Birong
- Østerberg, Frederik W
- Huang, Deping
- Shi, Haofei
- Luo, Da
- Wang, Meihui
- Ruoff, Rodney S
- Conran, Ben R
- McAleese, Clifford
- Huyghebaert, Cedric
- Brems, Steven
- Booth, Timothy J
- Napal, Ilargi
- Strupinski, Wlodek
- Petersen, Dirch H
- Forti, Stiven
- Coletti, Camilla
- Jouvray, Alexandre
- Teo, Kenneth B K
- Centeno, Alba
- Zurutuza, Amaia
- Legagneux, Pierre
- Jepsen, Peter U
- Bøggild, Peter
2021
Volltextzugriff (PDF)
2d materials, 2014-12, Vol.1 (3), p.35005-11
2014
Volltextzugriff (PDF)
Journal of physics. Conference series, 2015-10, Vol.647 (1), p.12022
2015
Volltextzugriff (PDF)
2d materials, 2019-02, Vol.6 (2), p.25023
2019
Volltextzugriff (PDF)
International journal of nanotechnology., 2017, Vol.14 (1/2/3/4/5/6), p.226
2017
Volltextzugriff (PDF)
2d materials, 2015-10, Vol.2 (4), p.45003
2015
Volltextzugriff (PDF)
International journal of nanotechnology., 2016, Vol.13 (8/9), p.591
2016
Volltextzugriff (PDF)
Nano letters, 2015-01, Vol.15 (1), p.803-803
2015
Volltextzugriff (PDF)
Physical review materials, 2023-07, Vol.7 (7), Article 075002
2023
Volltextzugriff (PDF)
2022 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2022, p.1-3
2022
Volltextzugriff (PDF)
ECS transactions, 2016, Vol.72 (1), p.35-44
2016
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronic engineering, 2008-05, Vol.85 (5-6), p.1092-1095
2008
Volltextzugriff (PDF)
Review of scientific instruments, 2009-05, Vol.80 (5), p.053902-053902-10
2009
Volltextzugriff (PDF)
ECS transactions, 2013, Vol.50 (9), p.543-549
2013
Volltextzugriff (PDF)
MRS proceedings, 2006, Vol.912, Article 0912-C05-07
2006
Volltextzugriff (PDF)
2018 76th Device Research Conference (DRC), 2018, p.1-2
2018
Volltextzugriff (PDF)
Aktive Filter
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Sprache
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Science & Technology
- Technology
- Materials Science
- Materials Science, Multidisciplinary
- Graphene
- Probes
- Science & Technology - Other Topics
- Nanoscience & Nanotechnology
- Electrodes
- Metrology
- Physical Sciences
- Resistance
- Electrical Resistance Measurement
- Micro Four-Point Probe
- Conductance
- Cvd Graphene
- Devices
- Physics
- Semiconductor Device Measurement
- Annealing
Kollektion
- IEEE/IET Electronic Library (IEL)
- EZB Electronic Journals Library
- American Physical Society
- SpringerLink
- Elsevier Journal Backfiles on ScienceDirect (DFG Nationallizenzen)
- IngentaConnect
- Springer Nature - Connect here FIRST to enable access
- Optica Publishing Group Journals
- American Institute of Physics (AIP) Journals
- Elsevier ScienceDirect Journals Complete
- Single Journals
- PROLA - Physical Review Online Archive
Zeitschrift / Serie
- 2d Materials
- Acs Applied Materials & Interfaces
- International Journal Of Nanotechnology
- International Journal Of Nanotechnology.
- Measurement Science & Technology
- Meeting Abstracts
- 19th International Conference On Electron Dynamics In Semiconductors, Optoelectronics And Nanostructures
- Journal Of Physics. Conference Series
- Journal Of Physics: Conference Series
- Microelectronic Engineering