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Sensitivity analysis explains quasi-one-dimensional current transport in two-dimensional materials
Physical review. B, Condensed matter and materials physics, 2014-12, Vol.90 (24), Article 245432
2014
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Micro Probe Carrier Profiling of Ultra-shallow Structures in Germanium
MRS proceedings, 2010, Vol.1252
2010
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Review of Micro- and Nanoprobe Metrology for Direct Electrical Measurements on Product Wafers
2022 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2022, p.1-3
2022
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Determination of thermal diffusivity of thermoelectric materials using a micro four-point probe method
Materials today physics, 2023-02, Vol.31, p.100963, Article 100963
2023
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Accurate Sheet Resistance Measurement on Ultra-Shallow Profiles
MRS proceedings, 2006, Vol.912, Article 0912-C05-07
2006
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Thermally Aided Nonvolatile Memory Using \pmb} Transistors
2018 76th Device Research Conference (DRC), 2018, p.1-2
2018
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Towards Carrier Profiling in Nanometer-wide Si Fins with Micro Four-Point Probe
2018 22nd International Conference on Ion Implantation Technology (IIT), 2018, p.153-155
2018
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Breakthrough in Current in Plane Metrology for Monitoring Large Scale MRAM Production
2017 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2017, p.1-3
2017
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Precision of single-engage micro Hall effect measurements
2014 International Workshop on Junction Technology (IWJT), 2014, p.1-4
2014
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Automated Micro Hall Effect measurements
2014 7th International Silicon-Germanium Technology and Device Meeting (ISTDM), 2014, p.37-38
2014
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Microprobe metrology for direct sheet resistance and mobility characterization
2012 12th International Workshop on Junction Technology, 2012, p.100-105
2012
Open Access
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Accuracy of micro four-point probe measurements on inhomogeneous samples: A probe spacing dependence study
2009 17th International Conference on Advanced Thermal Processing of Semiconductors, 2009, p.1-6
2009
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Quantitative mapping of large area graphene conductance
2012 37th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves, 2012, p.1-2
2012
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Micro-cantilevers for non-destructive characterization of nanograss uniformity
2011 16th International Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems Conference, 2011, p.1060-1063
2011
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Monitoring of local and global temperature non-uniformities by means of Therma-Probe and Micro Four-Point Probe metrology
2009 17th International Conference on Advanced Thermal Processing of Semiconductors, 2009, p.1-6
2009
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