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Managing Interfacial Hot‐Carrier Cooling and Extraction Kinetics for Inverted Ma‐Free Perovskite Solar Cells Over 23% Efficiency via Dion–Jacobson 2D Capping Layer

Advanced functional materials, 2023-06, Vol.33 (25), p.n/a

2023

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Theory of non-equilibrium ‘hot’ carriers in direct band-gap semiconductors under continuous illumination

New journal of physics, 2022-05, Vol.24 (5), p.53008

2022

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Hot Carrier Cooling and Trapping in Atomically Thin WS2 Probed by Three-Pulse Femtosecond Spectroscopy

ACS nano, 2023-04, Vol.17 (7), p.6330-6340

2023

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Transport Layer Engineering Toward Lower Threshold for Perovskite Lasers

Advanced materials (Weinheim), 2023-07, Vol.35 (30), p.e2300922-n/a

2023

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Carrier heating and its effects on the current-voltage relations of conventional and hot-carrier solar cells: A physical model incorporating energy transfer between carriers, photons, and phonons

Solar energy, 2019-08, Vol.188, p.450-463

Tsai, Chin-Yi

2019

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Hot‐carrier solar cells and improved types using wide‐bandgap energy‐selective contacts

Progress in photovoltaics, 2022-01, Vol.30 (1), p.65-84

Takeda, Yasuhiko

2022

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Ultrafast Carrier and Lattice Dynamics in Plasmonic Nanocrystalline Copper Sulfide Films

Laser & photonics reviews, 2021-03, Vol.15 (3), p.n/a

2021

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Toward Hot Carrier Extraction in Intervalley Photovoltaic Devices

ACS applied energy materials, 2022-09, Vol.5 (9)

2022

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Hafnium nitride for hot carrier solar cells

Solar energy materials and solar cells, 2016-01, Vol.144, p.781-786

2016

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Colloidal Synthesis and Charge-Carrier Dynamics of Cs 2 AgSb 1-y Bi y X 6 (X: Br, Cl; 0 ≤y ≤1) Double Perovskite Nanocrystals

Angewandte Chemie International Edition, 2019-02, Vol.58 (8), p.2278-2283

2019

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The Role of Thermalization in the Cooling Dynamics of Hot Carrier Solar Cells

Solar RRL, 2023-07, Vol.7 (13), p.n/a

2023

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Unveiling Charge Carrier Recombination, Extraction, and Hot‐Carrier Dynamics in Indium Incorporated Highly Efficient and Stable Perovskite Solar Cells

Advanced science, 2022-04, Vol.9 (11), p.e2103491-n/a

2022

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Intermediate‐band effect in hot‐carrier solar cells

Progress in photovoltaics, 2019-06, Vol.27 (6), p.528-539

Takeda, Yasuhiko

2019

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A Novel Technique for Curing Hot-Carrier-Induced Damage by Utilizing the Forward Current of the PN-Junction in a MOSFET

IEEE electron device letters, 2017-08, Vol.38 (8), p.1012-1014

2017

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IEEE_Xplore

Visualizing Hot‐Carrier Expansion and Cascaded Transport in WS2 by Ultrafast Transient Absorption Microscopy

Advanced science, 2022-04, Vol.9 (10), p.e2105746-n/a

2022

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Suppression of Hot‐Carrier Effects Facilitated by the Multimodal Thin‐Film Transistor Architecture

Advanced electronic materials, 2021-09, Vol.7 (9), p.n/a

2021

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Perovskite Solar Cells: Hot-Electron Injection in a Sandwiched TiOx-Au-TiOx Structure for High-Performance Planar Perovskite Solar Cells (Adv. Energy Mater. 10/2015)

Advanced energy materials, 2015-05, Vol.5 (10), p.n/a

2015

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Abnormal Seebeck Effect in Vertically Stacked 2D/2D PtSe2/PtSe2 Homostructure

Advanced science, 2022-12, Vol.9 (36), p.e2203455-n/a

2022

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Electric Field and Its Effect on Hot Carriers in InGaAs Valley Photovoltaic Devices

IEEE journal of photovoltaics, 2022-09, Vol.12 (5), p.1175-1183

2022

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IEEE_Xplore

Abnormal Two-Stage Degradation on P-Type Low-Temperature Polycrystalline-Silicon Thin-Film Transistor Under Hot Carrier Conditions

IEEE electron device letters, 2022-05, Vol.43 (5), p.721-724

2022

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IEEE_Xplore

Hot-carrier-degradation measured with charge-pumping in trench devices despite deep contacts

2023 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2023, p.1-4

2023

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IEEE_Xplore

Relationship between Trapping Centers, Charge Pumping, and Leakage Currents in Hot-Carrier-Stressed Si/SiO2/HfO2 Transistors

2023 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2023, p.1-4

2023

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IEEE_Xplore

Abnormal - Hump Effect Induced by Hot Carriers in Gate Length-Dependent p-Type LTPS TFTs

IEEE transactions on electron devices, 2019-11, Vol.66 (11), p.4764-4767

2019

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IEEE_Xplore

2 × VDD output buffer with 36.4% slew rate improvement using leakage current compensation

Electronics letters, 2017-01, Vol.53 (2), p.62-64

2017

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Degradation induced by hot carrier and cold carrier in 65-nm NMOSFETs with enclosed gate and two-edged gate layouts

Micro & nano letters, 2018-08, Vol.13 (8), p.1096-1100

2018

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