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Process technique for SEU reliability improvement of deep sub-micron SRAM cell
Solid-state electronics, 2003-04, Vol.47 (4), p.661-664
2003
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The effect of a cap layer on the diffusion of zinc from doped silica films in gallium arsenide
Solid-state electronics, 1997-03, Vol.41 (3), p.496-500
1997
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Optimization of PECVD silicon oxynitride for silicon MIS devices with low interface state density
Solid-state electronics, 1996-12, Vol.39 (12), p.1808-1810
1996
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High-sensitivity MOS varactor
Solid-state electronics, 1986-11, Vol.29 (11), p.1137-1144
1986
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Ion-cleaning damage in (100) GaAs, and its effect on schottky diodes
Solid-state electronics, 1983-01, Vol.26 (2), p.125-129
1983
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Zeitschrift / SerieSolid-State Electronics
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