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2020
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Solid-state electronics, 2011-11, Vol.65-66, p.197-204
- Betti Beneventi, G.
- Perniola, L.
- Sousa, V.
- Gourvest, E.
- Maitrejean, S.
- Bastien, J.C.
- Bastard, A.
- Hyot, B.
- Fargeix, A.
- Jahan, C.
- Nodin, J.F.
- Persico, A.
- Fantini, A.
- Blachier, D.
- Toffoli, A.
- Loubriat, S.
- Roule, A.
- Lhostis, S.
- Feldis, H.
- Reimbold, G.
- Billon, T.
- De Salvo, B.
- Larcher, L.
- Pavan, P.
- Bensahel, D.
- Mazoyer, P.
- Annunziata, R.
- Zuliani, P.
- Boulanger, F.
2011
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Microelectronic engineering, 2013-09, Vol.109, p.334-337
2013
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IEEE transactions on electron devices, 2008-06, Vol.55 (6), p.1373-1378
2008
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Solid-state electronics, 2007-11, Vol.51 (11), p.1458-1465
2007
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2016 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2016, p.1-2
- Pasini, L.
- Batude, P.
- Lacord, J.
- Casse, M.
- Mathieu, B.
- Sklenard, B.
- Luce, F. Piegas
- Micout, J.
- Payet, A.
- Mazen, F.
- Besson, P.
- Ghegin, E.
- Borrel, J.
- Daubriac, R.
- Hutin, L.
- Blachier, D.
- Barge, D.
- Chhun, S.
- Mazzocchi, V.
- Cros, A.
- Barnes, J.-P
- Saghi, Z.
- Delaye, V.
- Rambal, N.
- Lapras, V.
- Mazurier, J.
- Weber, O.
- Andrieu, F.
- Brunet, L.
- Fenouillet-Beranger, C.
- Rafhay, Q.
- Ghibaudo, G.
- Cristiano, F.
- Haond, M.
- Boeuf, F.
- Vinet, M.
2016
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2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2013, p.MY.8.1-MY.8.5
2013
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Microelectronic engineering, 1999, Vol.49 (1), p.169-180
1999
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Microelectronic engineering, 1997-06, Vol.36 (1), p.297-300
1997
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2013 IEEE International Electron Devices Meeting, 2013, p.21.5.1-21.5.4
2013
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Solid-state electronics, 2002-03, Vol.46 (3), p.337-342
2002
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Microelectronics and reliability, 1998-10, Vol.38 (10), p.1547-1552
1998
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2000 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 38th Annual (Cat. No.00CH37059), 2000, p.93-97
2000
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