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IEEE transactions on electron devices, 2024-09, p.1-5
2024
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Japanese Journal of Applied Physics, 2024-08, Vol.63 (8), p.085502
2024
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Diffusion and defect data. Solid state data. Pt. A, Defect and diffusion forum, 2024-08, Vol.434, p.149-155
2024
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Microelectronics, 2024-10, Vol.152, p.106387, Article 106387
2024
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ThemaJunction Temperature