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IEEE transactions on electron devices, 2005-08, Vol.52 (8), p.1821-1831
2005
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IEEE transactions on electron devices, 2007-04, Vol.54 (4), p.840-851
2007
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IEEE transactions on electron devices, 2007-08, Vol.54 (8), p.2002-2010
2007
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Computers & fluids, 2018-10, Vol.175, p.48-52
2018
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2015 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2015, p.3F.4.1-3F.4.4
2015
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IEEE transactions on electromagnetic compatibility, 2006-02, Vol.48 (1), p.161-171
2006
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2018 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2018, p.6C.5-1-6C.5-7
2018
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International journal of adaptive control and signal processing, 2009-11, Vol.23 (11), p.1014-1030
2009
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2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2006, p.140-144
2006
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1. Aufl., 2009
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2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd Annual, 2005, p.121-128
2005
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Asian journal of control, 2004-09, Vol.6 (3), p.421-427
2004
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Asian journal of control, 2003-03, Vol.5 (1), p.88-103
2003
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International journal of quantum chemistry, 1999, Vol.74 (4), p.395-404
1999
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Journal of the Franklin Institute, 2008-03, Vol.345 (2), p.119-135
2008
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2005 American Control Conference; Portland, OR; USA; 8-10 June 2005, 2005, p.3731-3736 vol. 6
2005
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2006-09, Vol.6 (3), p.461-472
2006
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2006 17th International Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2006, p.533-536
2006
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IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004, 2004, p.937-940
2004
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2003 4th International Conference on Control and Automation Proceedings, 2003, p.873-877
2003
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2003 4th International Conference on Control and Automation Proceedings, 2003, p.878-882
2003
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Transient-Induced Latchup in CMOS Integrated Circuits, 2010, p.151-168
2010
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Introduction
Transient-Induced Latchup in CMOS Integrated Circuits, 2010
2010
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