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2014
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Applied surface science, 2005-08, Vol.249 (1), p.322-331
2005
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Materials science in semiconductor processing, 2012-06, Vol.15 (3), p.264-269
2012
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Applied surface science, 2005-07, Vol.247 (1), p.243-248
2005
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Microelectronic engineering, 2012-06, Vol.94, p.11-13
2012
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Journal of materials science. Materials in electronics, 2012-03, Vol.23 (3), p.659-667
2012
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Thin solid films, 2001-12, Vol.400 (1), p.9-15
2001
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Journal of materials science. Materials in electronics, 2013-06, Vol.24 (6), p.1927-1936
2013
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Journal of applied physics, 1991-11, Vol.70 (10), p.6232-6237
1991
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Materials science in semiconductor processing, 2010-12, Vol.13 (4), p.281-287
2010
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Applied surface science, 2003-12, Vol.219 (3), p.317-328
2003
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Materials science & engineering. R, Reports : a review journal, 2012-02, Vol.73 (2), p.15-26
2012
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Journal of electronic materials, 2014-06, Vol.43 (6), p.2307-2313
2014
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Applied surface science, 2005-07, Vol.247 (1), p.418-422
2005
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Applied surface science, 2003-10, Vol.219 (1), p.129-135
2003
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Microelectronic engineering, 2010-11, Vol.87 (9), p.1805-1807
2010
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Organic electronics, 2013-11, Vol.14 (11), p.2721-2726
2013
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Nanotechnology, 2002-06, Vol.13 (3), p.404-408, Article 332
2002
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Microelectronic engineering, 2010-03, Vol.87 (3), p.370-372
2010
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Microelectronic engineering, 2012, Vol.89, p.76-79
2012
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Applied surface science, 1999-11, Vol.152 (3), p.138-148
1999
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Materials science in semiconductor processing, 2013-02, Vol.16 (1), p.89-98
2013
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Applied surface science, 2005-05, Vol.244 (1), p.209-212
2005
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Applied physics. A, Materials science & processing, 1997-06, Vol.64 (6), p.539-543
1997
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Applied surface science, 1996-04, Vol.96-98 (1-4), p.61-65
1996
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