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Stress-induced optical anisotropies measured by modulated reflectance
Semiconductor science and technology, 2004-09, Vol.19 (9), p.R35-R46
2004
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Lattice misfit and relative tilt of lattice planes in semiconductor heterostructures
Semiconductor science and technology, 1991-07, Vol.6 (7), p.705-708
1991
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X-ray rocking curve characterization of ZnTe layers grown on GaAs by hot-wall epitaxy
Semiconductor science and technology, 1991-09, Vol.6 (9A), p.A80-A82
1991
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Photoluminescence and excitation spectroscopy of ZnTe/GaAs epilayers grown by hot-wall epitaxy
Semiconductor science and technology, 1991-09, Vol.6 (9A), p.A90-A95
1991
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Monte Carlo simulation of atomic layer epitaxy
Semiconductor science and technology, 1994-12, Vol.9 (12), p.2224-2228
1994
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Electrical and optical properties of Li-doped MBE-grown p-type ZnSe films
Semiconductor science and technology, 1991-09, Vol.6 (9A), p.A72-A75
1991
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