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Short-Circuit Failure Modes and Mechanism Investigation of Ohmic-Gate GaN HEMT
IEEE transactions on electron devices, 2024-03, Vol.71 (3), p.1455-1463
2024
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Short Circuit Capability Characterization and Analysis of p-GaN Gate High-Electron-Mobility Transistors Under Single and Repetitive Tests
IEEE transactions on industrial electronics (1982), 2021-09, Vol.68 (9), p.8798-8807
2021
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Comparative Investigation on the Repetitive Short-Circuit Capability of 100 V Commercial p-GaN Gate Power HEMTs With Different Processing and Structure
IEEE transactions on electron devices, 2024-04, Vol.71 (4), p.1-7
2024
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A Critical Fault-Tolerant Inverter Based on Internal Evolutionary Short-Circuit Failure Mechanism of IGBT Module
IEEE transactions on components, packaging, and manufacturing technology (2011), 2022-12, Vol.12 (12), p.1914-1921
2022
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Investigating the Failure Mechanism of Short-Circuit Tests in 1.2-kV SiC JBS-Integrated MOSFETs
IEEE transactions on electron devices, 2020-10, Vol.67 (10), p.4027-4032
2020
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Zeitschrift / SerieIeee Journal Of Emerging And Selected Topics In Power Electronics
ThemaMosfet
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